摘要 型號KP-H1440V數(shù)字放大17X-216X目鏡0

摘要 KP-H1440目鏡0

摘要 型號KP-S300T顯示器13

摘要 型號KP-G400顯示器13

摘要 型號KP-N45TR-2100光學擴大2

摘要 KP-H1660VX顯示器13

摘要 KP-H2100VX顯示器13

摘要 產品規(guī)格KP-2190-X3光學放大3

摘要 FEI “Q系列"掃描電子顯微鏡是較經濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。

摘要 FEI “Quanta系列"環(huán)境掃描電子顯微鏡"FEI公司一代的、真正的多用途掃描電鏡，是的Quanta產品家族的第三代產品。

摘要 FEG系列" 場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡Quanta FEG系列場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司產品XL30 ESEM-FEG場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡的基礎上發(fā)展而來的。

摘要 型號KP-ICCF533-1800U放大倍率40X-1600X目鏡高眼點,廣角WF10X/20mm,視度可調,高眼點,廣角WF16X/16mm,視度可調觀察鏡筒無限遠鉸鏈式三目:30傾斜

摘要 攝像頭功能：內置開發(fā)的V3測量系統(tǒng)版本,再次提高圖像清晰度

摘要 相機特點：內置全新V3

摘要 相機特點：內置全新V3

摘要 相機特點：內置全新V3

摘要 KOPPACE 26X-182X大平臺顯微鏡 立柱直徑32mm 鏡頭尺寸50mm 單目電子顯微鏡

摘要 相機特點：內置全新V3

摘要 攝像頭功能：內置新開發(fā)的V3測量系統(tǒng)版本，再次提高圖像清晰度

摘要 型號KP-L3230-12MP放大倍率50X

摘要 相機特點：◆內置全新開發(fā)的V3版測量系統(tǒng)，再次提高圖像清晰度

摘要 相機特點：◆內置全新開發(fā)的V3版測量系統(tǒng)，再次提高圖像清晰度

摘要 攝像頭功能：內置新的V3.0版本的測量系統(tǒng)，新增：自定義界面編輯，自定義模板編輯，Dxf導入模板，文件管理，測量數(shù)據(jù)導出等功能，更加智能，快捷，功能更強大

摘要蔡司SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM300掃描電鏡，更靈活的成像方式1.無論是用戶還是初學者，蔡司SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM300將讓您體驗到在更高的分辨率和更佳的襯度下進行極大視野范圍成像的樂趣，2.并且在高真空或是可變壓力模式下都可以...

摘要更高的速度與靈敏度，更好的成像和分析1.蔡司GeminiSEM450掃描電鏡場發(fā)射掃描電子顯微鏡更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析，簡便、2.快速地進行EDS能譜和EBSD等分析，同時保持出色的空間分辨率，充當您的得力助手。3...

摘要蔡司鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO18具有處理所有類型材料能力的分析顯微鏡為您提供的成像質量。標配能譜儀（EDS）和波譜儀（WDS）接口，的X射線幾何條件對所有樣品提供了確的分析。對于非導體采用電子束襯管技術也提高了圖像質量和分析精度?？蛇x擇LaB6高亮度光源，在與X射線...

摘要 相機特點：◆內置全新開發(fā)的V3版測量系統(tǒng)，再次提高圖像清晰度

摘要蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡，靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能，將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma半...

摘要蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節(jié)信息，尤其在低的加速電壓下，在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度的圖像。經優(yōu)化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號，助您快速地獲取清晰的圖像，并使樣品損...

摘要 攝像頭功能：內置新的V3.0版本的測量系統(tǒng)，新增：自定義界面編輯，自定義模板編輯，Dxf導入模板，文件管理，測量數(shù)據(jù)導出等功能，更加智能，快捷，功能更強大

摘要 型號KP-N600CX功能繪制點,繪制半徑的圓,繪制兩個點的圓,繪制三個點的圓,測量兩個距離,同心圓,線距離,多邊形,交叉線,矩形,弧線,折線,曲線,直線,垂直線,平行線條,角度測量,文本注釋

摘要 蔡司EVO系列模塊化的SEM平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶

摘要捷歐路JEOL JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡的光學系統(tǒng)經過改進，實現(xiàn)了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，能提供...

摘要捷歐路JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡新機型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。 捷歐路JEOL JSM-IT500HR ...

摘要捷歐路JEOL JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能極大地簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。 捷歐路JEOL JSM-7900F ...

摘要 用于材料和生命科學的掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡（SEM）能夠提供高分辨率的表面信息及出色的材料對比度

摘要 日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。

摘要 日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能

摘要 主要特點：1、搭載了色差極小的適合低加速電壓高分辨率觀察的冷場電子槍2、跟前代機型相比分辨率大約提高了20%（Regulus8220/8230/8240：0.9nm/1kV

摘要 生產廠商：德國卡爾蔡司公司技術指標：Sigma500是熱場發(fā)射的掃描電鏡

摘要 JSM-IT100鎢燈絲掃描電鏡，是日本電子株式會社在2015年9月推出的新型號數(shù)字化掃描電鏡

摘要 蔡司Crossbeam系列專為高通量樣品制備和3D分析而設計的FIB-SEM輕松發(fā)現(xiàn)和設計*材料蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能

摘要 GeminiSEM系列高分辨，不挑樣長久以來，蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞

摘要 蔡司EVO系列模塊化的SEM平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶

摘要 用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件