摘要 超高分辨觀察和分析能力日立的高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍可同時(shí)支持超高分辨觀察和快速微束分析

摘要 集優(yōu)異性能、操作簡(jiǎn)便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可高效發(fā)揮其高性能

摘要 新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗(yàn)，使用起來非常直觀

摘要 FlexSEM1000II“的SEM更為緊湊”寬幅僅為45cm的緊湊型的設(shè)計(jì)，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 專門為電子束敏感樣品和需**300萬倍穩(wěn)定觀察的*半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)

摘要 產(chǎn)品型號(hào)：B008產(chǎn)品類別：便攜式手動(dòng)數(shù)碼顯微鏡產(chǎn)品特色：高清晰、高精度手動(dòng)調(diào)焦顯微鏡

摘要 JSM-7200F 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機(jī)型有了很大的提升。

摘要 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡，是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

摘要 JSM-7610FPlus 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。

摘要 JSM-7900F 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，它繼承了上一代廣獲好評(píng)的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時(shí)，操作性能極大簡(jiǎn)單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。

摘要Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡，肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對(duì)樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過對(duì)獲得的圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，可以對(duì)精細(xì)結(jié)...

摘要 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡，采用了新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，因而能獲得令人驚嘆的高畫質(zhì)圖像。即使對(duì)實(shí)時(shí)圖像，也能輕松地在CCD圖像上從尋找視野迅速過渡到高倍率（100,000）觀察。

摘要 JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。

摘要 JCM-7000 NeoScope 臺(tái)式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺(tái)式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

摘要 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

摘要 JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

摘要 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡(jiǎn)明易懂，在材料、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等多個(gè)研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。

摘要 JEM-3200FS場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場(chǎng)發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

摘要 JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

摘要 JEM-Z200FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡發(fā)，標(biāo)配冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺(tái)和12位自動(dòng)樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計(jì)的能量過濾器與無孔位相板的組合，進(jìn)一步提高了生物樣品的襯度。

摘要型號(hào)：JetSCAN產(chǎn)品介紹：JetSCAN用于航空發(fā)動(dòng)機(jī)安全檢測(cè)與分析的便攜式掃描電子顯微鏡.JetSCAN：專用于航空發(fā)動(dòng)機(jī)安全檢測(cè)與分析的便攜式掃描電子顯微鏡JetSCAN整體解決方案中集成了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測(cè)的*診斷與預(yù)測(cè)...

摘要 型號(hào):Sigma系列產(chǎn)品介紹：Sigma系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡.靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的Gemini電子光學(xué)元件

摘要 型號(hào)：ParticleSCANVP產(chǎn)品介紹：ParticleSCANVP:配有SmartPI用戶界面的堅(jiān)固耐用型掃描電子顯微鏡.ParticleSCANVP：開創(chuàng)工藝過程控制新標(biāo)準(zhǔn)ParticleSCANVP是蔡司掃描電鏡（SEM）家族的新成員

摘要 型號(hào)：EVO系列產(chǎn)品描述:EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶

摘要JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡,標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了...

摘要AFMinSEM 德國(guó) Nano analytik（ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng) ,既可以在大氣環(huán)境下實(shí)現(xiàn)樣品快速表征，也可以集成在真空環(huán)境中，如集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中。無需對(duì)SEM腔室進(jìn)行任何改造，保留SEM原有功能，賦予...

摘要場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲(chǔ)12個(gè)樣品，可以任意取出和交換一個(gè)或數(shù)個(gè)樣品...

摘要 數(shù)字化掃描電子顯微鏡2800B數(shù)字化電子顯微鏡是生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、農(nóng)林和材料科學(xué)等領(lǐng)域進(jìn)行科學(xué)研究的重要工具，電子顯微鏡技術(shù)已成為上述各領(lǐng)域研究工作者應(yīng)掌握的一項(xiàng)基本技能

摘要 數(shù)字化掃描電子顯微鏡EM3200數(shù)字化掃描電子顯微鏡產(chǎn)品在電器控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動(dòng)控制功能等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)

摘要 3800B型掃描電子顯微鏡3800B型掃描電子顯微鏡，是在幾十年的研究和生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代計(jì)算機(jī)及數(shù)字圖象技術(shù)，開發(fā)出的高性能產(chǎn)品

摘要 美國(guó)Delong 透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM),小型臺(tái)式多用途電子顯微鏡，透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式，分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）。

摘要 德國(guó)Zeiss SIGMA 300 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡，Gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，的低電壓性能，In Lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀察，X射線分析設(shè)計(jì)，便越操作系統(tǒng)設(shè)計(jì)，超大空間，多接口，升級(jí)靈活。

摘要 JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡，由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的。

摘要 JSM-7610FPlus，用于納米科學(xué)的肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡， 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，能觀察微細(xì)結(jié)構(gòu)和進(jìn)行微區(qū)元素分析。

摘要 型號(hào)KP-AF200V自動(dòng)對(duì)焦相機(jī)變倍比1:6

摘要 KP-H1660V目鏡0

摘要臺(tái)式掃描電子顯微鏡（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）,又俗稱“桌上型掃描電鏡”或“MiniSEM”，相較于傳統(tǒng)大型SEM（落地式），臺(tái)式SEM具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空等優(yōu)勢(shì)，而且它的放大倍數(shù)...

摘要 型號(hào)KP-9218-B3顯示器11

摘要 主要特點(diǎn)：符合國(guó)際視頻1080P標(biāo)準(zhǔn)，分辨率為1920*1080；圖像采樣幀率：60fps/秒高速圖像攝取

摘要 型號(hào)KP-3609輸出接口HDMI

摘要 產(chǎn)品編號(hào)KP-HD300圖像傳感器CMOS有效像素200萬像素傳感器尺寸1/2

摘要HBN-10系列電子顯微鏡HBN-10系列電子顯微鏡，采用單筒連續(xù)變倍組合，通過CCD攝像機(jī)將顯微圖像信號(hào)傳輸?shù)奖O(jiān)視器上對(duì)物體進(jìn)行觀察,可以大大提高顯微觀測(cè)的靈活性,是工業(yè)領(lǐng)域自動(dòng)化監(jiān)控和檢測(cè)的重要儀器。可連接電腦，選購(gòu)CCD(帶USB接口 可拍照，存儲(chǔ)圖片功能）,特...

摘要 模型KP-2110-B3光學(xué)放大2.1X-180X目鏡高眼點(diǎn)廣角目鏡WF10X/20,WF20X/10變焦物鏡0.7X-4.5X觀察頭三目立體顯微鏡觀察頭傾斜45

摘要 KP-H2100V目鏡0

摘要 KP-H2100目鏡0