AFMinSEM 德國 Nano analytik(ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng)
簡介:
公司以的針尖技術為核心競爭力,技術源自于德國伊爾默瑙工業(yè)大學,致力于主動式針尖技術在微納米結構制備和表征方面的研發(fā),及其相關設備的產業(yè)化。
公司開發(fā)的針尖技術模塊為滿足高精度成像而空間受限的應用需求而設計,既可以在大氣環(huán)境下實現(xiàn)樣品快速表征,也可以集成在真空環(huán)境中,如集成在掃描電子顯微鏡(SEM)中。無需對SEM腔室進行任何改造,保留SEM原有功能,賦予嶄新的應用領域,例如進行原位形貌表征、微操作和針尖誘導沉積。
技術特點:
。 不影響掃描電鏡自身功能
。4mm電鏡工作距離確保高分辨
。 原子力、電子束及離子束功能聯(lián)用
。 標準數(shù)據法蘭接口,方便安裝
。 大氣、真空環(huán)境操作
。 體積小,重量輕,靈活
。 樣品可掃范圍大 20 x 20 mm
。 自激發(fā)自傳感智能針尖規(guī)
功能指標: