摘要 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE

摘要 研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀-UVISEL

摘要 激光橢偏儀

摘要 光譜橢偏儀

摘要簡(jiǎn)要描述：光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/...

摘要 太陽(yáng)能電池專用橢偏儀

摘要 20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型

摘要 基于25年經(jīng)驗(yàn)，UVISELPlus相位調(diào)制橢偏儀提供純正有效的偏振調(diào)制，可用于各種樣品的精確測(cè)量，的FastAcqTM快速采集技術(shù)使得測(cè)試靈敏度提高至原有的2倍，從而能獲得界面薄膜和納米級(jí)低襯度襯底樣品的更多信息

摘要 AutoSE是一種新型的按鍵式全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具，需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鍵操作，即可完成全自動(dòng)測(cè)量和分析

摘要 Gaertner Stokes Waferskan橢偏儀LSE-WS，Gaertner stokes waferskan™ ellipsometer LSE-WS

摘要 Gaertner stokes 微點(diǎn)橢偏儀LSE-MS，Gaertner stokes microspot ellipsometer LSE-MS

摘要 這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?/p> 在線詢價(jià)

摘要 這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,是反射光譜橢偏儀品牌中光譜橢偏儀價(jià)格較低的橢偏儀

摘要 這款手動(dòng)光譜橢偏儀是一種手動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，手動(dòng)改變?nèi)肷浣?/p> 在線詢價(jià)

摘要這款大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺(tái)，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長(zhǎng)范圍，是美國(guó)Angstrom公司為大尺寸樣品薄膜厚度測(cè)量而設(shè)計(jì)的美國(guó)進(jìn)口光譜橢偏儀,Spectroscopic,Ellipsometer,具有...

摘要 這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀專業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能

摘要 這款手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀是高性價(jià)比手動(dòng)橢偏儀,它采用手動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角技術(shù),相比于自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑淖詣?dòng)光譜橢偏儀價(jià)格更低

摘要 這款高級(jí)自動(dòng)光譜橢偏儀是自動(dòng)變角橢偏儀,能夠自動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角的spectroscopicellipsometer,角度改變步進(jìn)高達(dá)0.01度，光譜范圍覆蓋250-1700nm,是寬波段高精度自動(dòng)橢偏儀

摘要 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可在紫外和可見(jiàn)（250至800nm）波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù) 可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度 可以通過(guò)超過(guò)400ch的多通道光譜快速測(cè)量Ellipso光譜 通過(guò)可變反射角測(cè)量，可詳細(xì)分析...

摘要OPTM系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過(guò)反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析?？赏ㄟ^(guò)非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測(cè)量時(shí)間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分...

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷日本HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2 series產(chǎn)品型號(hào)：UVISEL 2關(guān)鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2關(guān)鍵字描述：

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷日本HORIBA光譜橢偏儀-UVISEL 2 series產(chǎn)品型號(hào)：UVISEL 2關(guān)鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2關(guān)鍵字描述：

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷日本HORIBA光譜橢偏儀-UVISEL 2 series產(chǎn)品型號(hào)：UVISEL 2關(guān)鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2關(guān)鍵字描述：

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷日本HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2 series產(chǎn)品型號(hào)：UVISEL 2關(guān)鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2關(guān)鍵字描述：

摘要

摘要 SpecEl橢偏儀通過(guò)測(cè)量基底反射的偏振光，進(jìn)而測(cè)量薄膜厚度及材料不同波長(zhǎng)處的折射率。SpecEl通過(guò)PC控制來(lái)實(shí)...

摘要 光譜橢偏儀SE-1000另一方面，SE-1000型全光譜橢偏儀采用了新設(shè)計(jì)的光學(xué)部件以及新版本的測(cè)試分析軟件（SAM/SEA），*地提高了設(shè)備的運(yùn)行穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)處理能力

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 系列產(chǎn)品型號(hào)：UVISEL 2

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 系列產(chǎn)品型號(hào)：UVISEL 2

摘要 Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀LED 光源和非移動(dòng)式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量，就可以獲得非常精密和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

摘要 AutoSE-一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具。 采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。

摘要 Smart SE智能型多功能橢偏儀是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速，精確表征和分析的工具。 多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活，具備多角度測(cè)量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。

摘要光譜型參比橢偏儀橢偏技術(shù)對(duì)表界面非常敏感，百年來(lái)一直被用于各種薄膜的光學(xué)分析測(cè)量。它的基本原理是，當(dāng)一束偏振光經(jīng)過(guò)樣品表界面反射之后偏振狀態(tài)會(huì)發(fā)生變化。并且，如果樣品表面是一層薄膜（或者多層薄膜堆疊），整個(gè)薄膜/基底的光學(xué)系統(tǒng)信息對(duì)反射光束的偏振狀態(tài)都有影響。因此，通...

摘要 新一代激光成像橢偏儀新一代的超薄膜、表界面和材料分析測(cè)試平臺(tái)，結(jié)合自動(dòng)消光橢偏技術(shù)和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡技術(shù)。橫向（X/Y方向）分辨率超過(guò)1微米

摘要 新一代光譜成像橢偏儀新一代的超薄膜、表界面和材料分析測(cè)試工具，結(jié)合自動(dòng)消光橢偏技術(shù)和傳統(tǒng)顯微鏡技術(shù)，橫向（X/Y方向）分辨率超過(guò)1微米新一代成像橢偏儀Nanofilm_EP4具有多種*功能

摘要 反射式光譜橢偏儀價(jià)格具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,是反射光譜橢偏儀品牌中光譜橢偏儀價(jià)格較低的橢偏儀。

摘要手動(dòng)光譜橢偏儀價(jià)格是一種手動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，手動(dòng)改變?nèi)肷浣?。手?dòng)spectroscopic ellipsometer光譜范圍覆蓋從深紫外到可見(jiàn)光再到近紅外.深紫外波長(zhǎng)非常適合測(cè)量超薄薄膜，比如納米厚度薄膜測(cè)量,硅晶...

摘要 大型光譜橢偏儀價(jià)格提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長(zhǎng)范圍，是美國(guó)Angstrom公司為大尺寸樣品薄膜厚度測(cè)量而設(shè)計(jì)的美國(guó)進(jìn)口光譜橢偏儀,Spectroscopic,Ellipsometer,具有高性價(jià)比橢偏儀價(jià)格和橢偏儀品牌。

摘要 光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀價(jià)格是專業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用手動(dòng)改變測(cè)角計(jì)的入射角，數(shù)秒中給出結(jié)果。

摘要 手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀價(jià)格它采用手動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角技術(shù),相比于自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑淖詣?dòng)光譜橢偏儀價(jià)格更低。橢圓偏振技術(shù)是通過(guò)研究光束在樣本表面反射后偏振態(tài)變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測(cè)量技術(shù)。

摘要 高級(jí)自動(dòng)光譜橢偏儀價(jià)格是自動(dòng)變角橢偏儀,能夠自動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角的spectroscopic ellipsometer,角度改變步進(jìn)高達(dá)0.01度，光譜范圍覆蓋250-1700nm, 是寬波段高精度自動(dòng)橢偏儀。

摘要ME-L 穆勒矩陣橢偏儀概述ME-L 是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一...

摘要 SE-VM光譜橢偏儀E-VM是一款高精度快速測(cè)量光譜橢偏儀?？蓪?shí)現(xiàn)科研/企業(yè)級(jí)高精度快速光譜橢偏測(cè)量，支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計(jì)。

摘要 SE-VE光譜橢偏儀SE-VE是一款高性價(jià)比快速測(cè)量光譜橢偏儀。高性價(jià)比光學(xué)橢偏測(cè)量解決方案緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡(jiǎn)便，一鍵快速測(cè)量向?qū)Ы换ナ饺藱C(jī)界面，便捷的軟件操作體驗(yàn)豐富的材料數(shù)據(jù)庫(kù)和算法模型庫(kù)。

摘要 SE-L光譜橢偏儀SE-L是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度快速光譜型橢偏儀，可通過(guò)橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析。適用于各向同性薄膜材料快速測(cè)量表征。