摘要橢偏儀測介電常數(shù)GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介...

摘要 采用雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)，可測量穆勒矩陣的全部16個(gè)單元，RC2是J.A.Woollam公司的的光譜橢偏儀產(chǎn)品。

摘要 BX-G102系列針對科研和工業(yè)環(huán)境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補(bǔ)償器、利用步進(jìn)補(bǔ)償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。

摘要BX-G101系列針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k，或介電函數(shù)ε1...

摘要BX-G103系列是針對新穎研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量?？捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)...

摘要BX-G104針對光伏太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。 BX-G104用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8n...

摘要BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)...

摘要 儀器廠商：美國J.A.Woollam公司型號：M-2000DI到貨日期：2008.4.19技術(shù)指標(biāo)：●波長范圍：190~1700nm●光譜分辨率：1.6nm（波長小于1000nm）

摘要 SE-1000型橢偏儀采用手動(dòng)變角裝置來設(shè)定測試的入射角，樣品臺(tái)采用手動(dòng)方式，在測試的準(zhǔn)確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下，為客戶提供了一款競爭力的橢偏測試設(shè)備

摘要 光譜橢偏儀/SpectroscopicEllipsometerSE2000型光譜型橢偏儀是多功能薄膜測試系統(tǒng)，適合各種薄膜材料的研究

摘要 簡單介紹： 除了可以進(jìn)行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實(shí)現(xiàn)自動(dòng)可變測量機(jī)制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動(dòng)連接/分離機(jī)制，還提高了測量精度。

摘要 SmartSE,智能型多功能橢偏儀SmartSE是一款通用型薄膜測量工具

摘要 Auto SE一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀

摘要 橢偏儀

摘要 橢偏儀應(yīng)用光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)特性的光學(xué)測量設(shè)備

摘要 全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性

摘要 多角度激光橢偏儀使用632.8nm波長HeNe激光器，對測量薄膜厚度，折射率和吸收系數(shù)有非常出色的精度。儀器能夠分析單層膜，多層膜和大塊材料（基底）。

摘要 用于橢偏儀或其它光譜儀等設(shè)備。

摘要SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設(shè)計(jì)了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和防反射涂層。分析了單晶和多晶硅太陽電池的折射率指數(shù)、吸收和膜厚。在配方模式下進(jìn)行復(fù)雜的測量，速度快，操作容易...

摘要 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。

摘要 激光橢偏儀SE 500adv，橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴(kuò)展到25埃米，從而明確地確定厚度。

摘要 激光橢偏儀 SE 400adv，激光橢偏儀SE 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀SE 400adv表征吸收膜特征。

摘要 SENDURO 全自動(dòng)光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動(dòng)樣品對準(zhǔn)，自動(dòng)測量和分析結(jié)果。在全自動(dòng)模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。

摘要 SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

摘要 德國 Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計(jì)，入射角度步進(jìn)值5。操作簡單，快速測量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設(shè)計(jì)來測量單層和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。

摘要德國Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺(tái)SENresearch 4.0都是客戶特定的橢偏光譜解決方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣...

摘要 一、產(chǎn)品介紹：20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進(jìn)行精確的測量。采用PEM相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。二、產(chǎn)品參數(shù)

摘要 橢偏儀 FILM SENSE可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征.

摘要光譜橢偏儀可配置從DUV到NIR的波長范圍。DUV范圍可用于測量超薄膜，如納米厚度范圍。比如硅晶片上的原生氧化物，其通常僅為約1至2nm厚。當(dāng)用戶需要測量許多材料的帶隙時(shí)，深紫外光譜橢偏儀也是的?？梢娀蚪t外范圍用于測量相對厚或非常厚的涂層。當(dāng)然，如果必須確定光學(xué)常數(shù)...

摘要 SpecEl橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實(shí)...

摘要 SE-PV光伏橢偏儀

摘要 SE-i 光譜橢偏儀

摘要 SE-Glass 光譜橢偏儀

摘要 SE-Mapping光譜橢偏儀

摘要 SE-L光譜橢偏儀

摘要 SE-VE光譜橢偏儀

摘要 ME-L全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀

摘要 SE-VM光譜橢偏儀

摘要 智能型多功能橢偏儀 Smart SE

摘要 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE

摘要 研究級經(jīng)典型橢偏儀-UVISEL

摘要 光譜型橢偏儀

摘要 組合式多功能橢偏儀

摘要 第3代FilmSense多波長橢偏儀系統(tǒng)現(xiàn)已上市！這一代的主要改進(jìn)是電動(dòng)源偏振器，它支持自動(dòng)校準(zhǔn)和區(qū)域平均測量

摘要 智能型多功能橢偏儀 Smart SE