關鍵詞:
橢偏儀儀器 光譜橢偏儀 橢偏儀分析 橢偏儀設備 分光橢偏儀
產品用途:
BX-G101高精度靈敏光譜橢偏儀針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀,波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數(如,厚度)和物理參數(如,折射率n、消光系數k,或介電函數ε1和ε2),也可用于測量塊狀材料的光學性質。
儀器特點:
1. 高精度靈敏光譜橢偏儀采用先進的旋轉補償器測量技術:橢偏角△的測量范圍是0-360o,無測量死角問題,也可消除粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響
2. 秒級的全光譜測量速度:全光譜測量典型時間5-10秒
3. 原子層量級的檢測靈敏度:可以測量單原子層
4. 視頻式樣品對準:精確完成樣品對準,并方便觀察,減小人為誤差
5. 多入射角度調節(jié):多入射角度結構設計,增強了儀器測量的靈活性,尤其適合于超薄樣品或復雜的樣品的測量場合
6. 反射率/透射率測量:對樣品進行光譜透射率和反射率測量
7. 一鍵式儀器操作:對于常見操作,只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程,豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求
技術參數: