TM系列臺(tái)式電子顯微鏡專用能譜儀(EDS)Quantax75
操作簡(jiǎn)單且直觀
*和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例
*探測(cè)器內(nèi)置型
(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)
特點(diǎn)
通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動(dòng)到位置,可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖
雙屏顯示
僅需選擇圖像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí),實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
超高的性能(hyper map)成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果
點(diǎn)分析
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖,輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結(jié)果。
檢測(cè)器
項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
---|---|
探測(cè)器類型 | 硅漂移探測(cè)器 |
探測(cè)器面積 | 30 mm2 |
能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα?xí)r不高于129 eV) |
可檢測(cè)元素 | B5~Cf98 |