摘要ZetaCAD固體表面Zeta電位分析儀是直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學于材料科科學領域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻...

摘要

摘要

摘要 DT-330 固體表面電位儀許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要 納米粒度和Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過測量動態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。

摘要 法國Bio-logic 強電流恒電位儀 HCP-1005是一個緊湊的強電流恒電位儀，專門為具有高容量的二次電池研究而設計

摘要 BiStat 3200 高品質(zhì)雙通道恒電位儀法國*產(chǎn)品,主要用于: 儲能, 傳感器, 電鍍, 腐蝕及電池的研究，滿足苛刻的應用研究要求。

摘要 經(jīng)濟型單通道恒電位儀/恒電流儀SP-150是一款全功能的經(jīng)濟型研究級恒電位儀/恒電流儀。憑借其模塊化的機箱，此儀器可以定制，以滿足傳統(tǒng)電化學領域的所有應用程序。

摘要DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業(yè)務。DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學參數(shù)、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿...

摘要 DT-300 電聲法Zeta電位儀許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要 DT-310電聲法Zeta電位儀Zeta電位儀：許多的科學家把聲學應用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學和電聲學手段會提供關于顆粒表征的三個重要領域的信息: 粒徑分布，流變學和電動學。

摘要502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過傳統(tǒng)微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒有黑盒子?！?02的*的超顯微鏡設計提供了一個高對比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介質(zhì)的相對折射率不同，可測量小至20nm的顆粒?！窀咚降募す夤鈱W系統(tǒng)...

摘要 電位儀可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究

摘要

摘要 粒徑分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；

摘要 Zeta Probe高濃度Zeta濃漿電位儀公司技術－多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達60％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。這一特點對鈦、油墨、色漿、CMP研磨漿料等高濃度體系的研究極為關鍵。

摘要 ZetaPlus Zeta電位分析儀它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準確而方便。

摘要 ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀這就是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進行測量，ZetaPALS的出現(xiàn)為他們提供了準確可信的測量技術。

摘要 90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀價格它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準確而方便。

摘要 90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS）, 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動。

摘要美國MAS ZetaAPS電位分析儀Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器...

摘要 美國MAS納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

摘要 美國MAS高濃度納米粒度儀,APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

摘要 進口Zeta納米分析儀該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)。

摘要 ZA500電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術，該儀器可完成非凡的電動測量結果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；

摘要 APS-100高濃度納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

摘要 恒電位儀主要用于測量各種氧化合物比如兒茶酚胺類（腎上腺素、*、多巴胺），吲哚胺類（5-羥色胺、褪黑素），抗壞血酸和Fe（II）等，靈敏高、低噪聲、定位專一性好。

摘要 Zeta-388 白光共聚焦可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無限遠焦點圖像。Zeta-388具備Multi-Mode（多模式）光學系統(tǒng)、簡單易用的軟件、低擁有成本，以及SECS / GEM通信，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

摘要Keithley 恒電位儀2450-EC、2460-EC 和 2461-EC 恒電位儀操作靈活、成本低，非常適合于基本電化學實驗室研究、檢定下一代材料和電解質(zhì)、新型儲能裝置以及更快更小巧傳感器的研究和開發(fā)。 這些恒電位儀包含電化學測試過程所需的一切功能，包括循環(huán)、方波...

摘要 德國BANK ELEKTRONIK恒電位儀產(chǎn)品范圍：德國BANK ELEKTRONIK電位儀、BANK ELEKTRONIK恒電位儀、BANK ELEKTRONIK、BANK ELEKTRONIK多路恒電位儀

摘要 Zeta電位測量儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。

摘要 CH-1型恒電位儀，采用三電極系統(tǒng)電解池，給定電位、補償電流及所測電流由LED顯示。與掃描電壓發(fā)生器相連就是一臺高精度伏安儀，在x-y函數(shù)記錄儀上可記錄電流——電位曲線。

摘要 CMBP-1型雙恒電位儀主要與旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極配套用于研究氧化還原反應的機理和動力學，亦可作為單恒電位儀應用于普通的兩電極或三電極系統(tǒng)，儀器控制精度高、功能強、穩(wěn)定性好，是極譜分析、腐蝕研究的理想儀器。

摘要 SZ100納米粒度 Zeta電位分析儀廣泛測定樣品濃度范圍通過采用雙重光學系統(tǒng)，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

摘要 Nanotrac wave II納米粒度及zeta電位儀準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子，測量精度: 無需預選，依據(jù)實際測量結果，自動生成單峰/多峰分布結果。

摘要 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前少有的能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍！

摘要Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度...

摘要 DT-300/310電聲法zeta電位分析儀采用電聲測量技術進行zeta電位測量，超聲探頭（Zeta Probe）直接測量原始樣品的zeta電位，用于懸浮液和乳液表征；可以是水相，極性和非極性溶劑。

摘要SMW12083036KANT802-100-221PERMA27005081SMW88809PILZ777760 PNOZ X8P 24 VDC 3n/o 2n/c 2soKitagawa GmbHKGLS-10SAirComAIC-FM-03_02ATOSE-ME...

摘要parkerD1SE83BNJWheidenhain336963-20ICARMLR25M5060060138/I-MK SHFLOWSERVEWDB0137200 ，2SWITCH,NAMER SHAFT,SHORT;P+F NJ4-12 GM40-E;PROMIN...

摘要Mahle德國helios海洛斯TiefenbachTiefenbach德國VEMVSETiefenbachPARKERVSEPARKERTiefenbachPARKEREMODTiefenbachPARKER德國JAHNS雅恩斯PARKERBIKON-Technik...

摘要 SurPASS 3固體表面Zeta電位/流動電流電勢分析儀儀器名稱：Zeta電位分析儀研究對象：纖維、薄膜、粉末、粒子、固體金屬或非金屬片等材料。主要用途：測量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。

摘要 Litesizer™ 500納米粒度zeta電位儀Litesizer 500安東帕作為高性能分析儀器的*開發(fā)商和制造商，它將其物理和工程專業(yè)技術與當代的軟件創(chuàng)意相結合，研發(fā)出直觀又輕松易用的顆粒分析儀。

摘要 SurPASS固體表面 Zeta 電位分析儀在表面分析中，固體表面 Zeta電位分析儀SurPASS 3基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。 它可以提供有關表面電荷和相關性質(zhì)的信息，并可檢測表面性質(zhì)中微小的變化。

摘要 主要用途：恒電位儀是外加電流陰極保護系統(tǒng)中向被保護金屬構筑物表面提供直流的關鍵設備