摘要 Zeta 電位及其測(cè)定分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場(chǎng)作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 納米粒度及zeta電位儀NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng)，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量迅速，無(wú)需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無(wú)需外加大功率電場(chǎng)，無(wú)需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測(cè)試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 便攜式氧化還原電位儀 高精度氧化還原電位測(cè)試儀 型號(hào):JC16-QX6530可測(cè)量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）。微電腦處理器，測(cè)量精度高、重復(fù)性好、自動(dòng)溫度補(bǔ)償，操作簡(jiǎn)單。配通用電極，滿足常規(guī)pH的測(cè)量。

摘要 Zeta電位分析儀FPA測(cè)量纖維及填料的表面電荷，通過(guò)測(cè)量化學(xué)品添加前后的樣品情況，能評(píng)估諸如淀粉或濕強(qiáng)劑對(duì)造紙工藝的影響。

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測(cè)試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測(cè)試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測(cè)試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 zeta電位分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場(chǎng)作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 ZETA電位測(cè)量?jī)x是簡(jiǎn)單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器，其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。

摘要納米粒度儀及zeta電位分析儀當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號(hào)隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度低，反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)...

摘要 型號(hào) Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 簡(jiǎn)介 SZ-100V2 只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。

摘要 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要簡(jiǎn)要描述：Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用雪崩二極管（APD）檢測(cè)器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光強(qiáng)度，APD檢測(cè)器更是增加了對(duì)微小粒子所發(fā)出信號(hào)的探測(cè)能力。利用動(dòng)態(tài)光散射理論，粒徑檢...

摘要簡(jiǎn)要描述：Nicomp Zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯...

摘要簡(jiǎn)要描述：Nicomp Z3000 納米zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟...

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀

摘要 全自動(dòng)Zeta電位分析儀

摘要 SurPASS 3固體電運(yùn)動(dòng)分析儀/ 固體表面Zeta 電位儀幫助科研人員在化學(xué)與材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特性，設(shè)計(jì)新型、特定性質(zhì)的材料，如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。

摘要 原產(chǎn)地： 英國(guó)

摘要502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過(guò)傳統(tǒng)微電泳方法測(cè)量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒(méi)有黑盒子?！?02的的超顯微鏡設(shè)計(jì)提供了一個(gè)高對(duì)比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對(duì)懸浮介質(zhì)的相對(duì)折射率不同，可測(cè)量小至20nm的顆粒?！窀咚降募す夤鈱W(xué)系統(tǒng)和...

摘要 Zeta電位儀Zeta電位儀廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一

摘要 儀器名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀型號(hào)：MalvernZetasizerZEN3600Mastersizer3000檢測(cè)項(xiàng)目：Zeta電位測(cè)量

摘要 Zeta電位儀

摘要 ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位儀

摘要 簡(jiǎn)要說(shuō)明：粒度范圍：0.3nm～15μm測(cè)量功能：分子量、Zeta電位、粒度選件：自動(dòng)滴定儀、介電常數(shù)儀、粘度計(jì)儀器品牌：美國(guó)布魯克海文儀器名稱：高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀儀器型號(hào)：90Plus/90PlusZeta/ZetaPlus

摘要 納米粒度和Zeta電位儀

摘要 BeNano90Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量等參數(shù)，廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域。

摘要 型號(hào)：Nano-2sZEN3600主要技術(shù)指標(biāo)：粒度測(cè)定范圍：0.6nm-6000nm；濃度范圍：0.1ppm-40%（W/v)；分子量測(cè)定范圍：道爾頓；溫度控制范圍：2-90℃

摘要 在表面分析中，SurPASS可測(cè)試基于流動(dòng)電勢(shì)和流動(dòng)電流的宏觀固體表面Zeta電位

摘要 儀器介紹新一代ZetasizerNano系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測(cè)量三項(xiàng)最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta電位和分子量

摘要 ZetasizerNanoZSP是性能的系統(tǒng)，特別適用于需要粒度及ZETA電位測(cè)量靈敏度的蛋白質(zhì)及納米顆粒的表征

摘要 Zeta電位分析儀

摘要DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀美國(guó)分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿...

摘要 密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。ZetaCompact視頻追蹤式Zeta電位測(cè)定儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。

摘要ZetaCAD固體表面Zeta電位分析儀是直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的Zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解液科研透過(guò)的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻...

摘要 法國(guó)WALLIS 多普勒電泳高分辨率Zeta電位分析儀具有的分辨率，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)，并且可以和其它分析手段聯(lián)用。為制藥行業(yè)的反應(yīng)監(jiān)測(cè)和藥瓶中的蛋白質(zhì)聚集體納米階段的生成監(jiān)控，

摘要 高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測(cè)試和遠(yuǎn)程原位測(cè)試。

摘要 納米粒度和Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過(guò)測(cè)量動(dòng)態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來(lái)測(cè)定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。

摘要 微電泳儀（水性體系）產(chǎn)品詳細(xì)介紹JS94H型微電泳儀（Zeta電位儀）是可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理

摘要 （水性體系和非水體系兩用型）微電泳儀（Zeta電位儀）是可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理

摘要 微電泳儀（水性體系）產(chǎn)品詳細(xì)介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理

摘要 (微電泳儀)(水性體系和非水體系兩用型)產(chǎn)品詳細(xì)介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理

摘要 微電泳儀(水性體系和非水體系兩用型)產(chǎn)品詳細(xì)介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理

摘要 微電泳儀(水性體系)產(chǎn)品詳細(xì)介紹微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理