納米粒度儀及zeta電位分析儀BOS系列用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現(xiàn)出dute的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù),準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù),Zeta電位越高,膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定,反之,Zeta電位越低,膠體系統(tǒng)穩(wěn)定性就越差,因此通過測量和調(diào)整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩(wěn)定性,廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制以及科學(xué)研究,以便深入了解產(chǎn)品特性。

納米粒度儀及zeta電位分析儀技術(shù)特點:

1、全光纖光路:利用全光纖光路替代分立光路,使參考光和散射光信號不再受灰塵和雜散光的干擾,顯著提高了信噪比和抗干擾能力。  
      2、背散射光路:使用背散射光路減小散射光程,減弱多次散射光,進而可以測量高濃度樣品的顆粒粒度。  
      3、大動態(tài)范圍高速數(shù)字相關(guān)器:采用高速、低速通道搭配的光子相關(guān)器,有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾,實時獲取動態(tài)范圍大、基線穩(wěn)定的相關(guān)函數(shù)。  
      4、數(shù)據(jù)篩選功能:引入分位數(shù)檢測異常值的方法,鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù),并剔除異常值,提高粒度測量結(jié)果的準確性。  
      5、多角度數(shù)據(jù)反演:從多個不同的散射角度采集散射光強,可以獲得更多的顆粒粒度信息,并將多個自相關(guān)函數(shù)結(jié)合到一個數(shù)據(jù)分析中,提高顆粒粒度分布的準確性。  
      6、溫度趨勢分析:按照設(shè)定的溫度范圍,自動進行粒度和Zeta電位測量,檢測樣品粒度或電位的溫度趨勢。  
      7、毛細管樣品池:使用改進型平底U形毛細管樣品池測量Zeta電位,由于樣品池底部是水平的,從而使得電場強度比傳統(tǒng)的毛細管樣品池更加均勻,減少測量誤差,進而提高Zeta電位的測量精度與重復(fù)性。  
      8、相位分析光散射技術(shù)(PALS):通過測量光拍信號的相位變化來獲得顆粒的Zeta電位,測量分辨率比電泳光散射法高兩個數(shù)量級。  
      9、數(shù)據(jù)輸出:提供數(shù)據(jù)輸出功能,方便用戶以自定義的圖、表方式查看、對比測量結(jié)果  
     10、標準化操作:軟件具有標準化操作(SOP)功能,讓不同實驗室、不同實驗員間的測量按照同一標準進行,測量結(jié)果更具可比性。  
     11、智能化測量:自動調(diào)整散射光強,自動優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù),以適應(yīng)不同樣品,讓測量變得如此輕松。  
     12、法規(guī)軟件:軟件符合FDA 21CFR Part11的要求,可設(shè)置/修改用戶組的訪問權(quán)限,具有電子記錄/電子簽名和審計跟蹤功能,wanquan符合制藥企業(yè)的法規(guī)要求。