摘要安東帕作為高性能分析儀器的開發(fā)商和制造商，它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當(dāng)代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合，研發(fā)出直觀又輕松易用的Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀。該分析儀通過光散射技術(shù)和巧妙簡易的軟件測(cè)量顆粒尺寸，Zeta電位、分子量和透光率。讓您對(duì)顆粒體系有一...

摘要奧地利Anton Paar公司SurPASS 3固體表面Zeta電位分析儀采用流動(dòng)電勢(shì)法和流動(dòng)電流發(fā)測(cè)量Zeta電位，突破了傳統(tǒng)的電泳光散射原理對(duì)樣品的限制；采用“增強(qiáng)的 SurPASS 原理"，可直接研究平面固體、粉末、纖維、箔、多孔材料以及具有不同表面粗糙度的材料...

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

摘要 描述：9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。

摘要 DT-310電聲法Zeta電位儀Zeta電位儀：許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會(huì)提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動(dòng)學(xué)。

摘要 儀器簡介：在表面分析中，固體表面Zeta電位分析儀SurPASS3基于流動(dòng)電勢(shì)和流動(dòng)電流測(cè)量法，從而研究宏觀固體表面Zeta電位

摘要 Zeta電位分析儀液體中懸浮的粒子很接近表面位置的靜電勢(shì)1

摘要NanolinkSZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測(cè)量和Zeta電位分析，被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、...

摘要 充滿信心地邁步向前ZetasizerPro是一種強(qiáng)大且多用途的測(cè)量系統(tǒng)，適用于測(cè)量顆粒和分子大小以及納米顆粒的電泳遷移率和電動(dòng)電勢(shì)

摘要 充滿信心地邁步向前全新ZetasizerUltra是用于執(zhí)行顆粒與分子粒度、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，是整個(gè)Zetasizer系列中最智能、靈活度的儀器

摘要ZetaPlus是簡單、方便而且準(zhǔn)確的Zeta電位與電泳遷移率測(cè)量儀器，其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得...

摘要 一、產(chǎn)品簡介Zeta納米粒度及Zeta電位儀是全新開發(fā)的測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

摘要 ZetasizerNanoS90是一種的高性價(jià)比解決方案，適合需要較高粒度測(cè)量靈敏度，或者需要與采用90度散射光學(xué)元件的原有系統(tǒng)結(jié)果相同的情況

摘要 概述在無需粒度或分子量測(cè)量的情況下，ZetasizerNanoZ是測(cè)量膠體及納米顆粒ZETA電位及電泳遷移率的理想系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品簡介：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要 zeta電位·粒徑·分子量測(cè)量系統(tǒng)大塚ELSZ-2000可測(cè)量低濃度溶液～高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量

摘要 Zeta電位分析儀美國ColloidalDynamics公司是專業(yè)生產(chǎn)高濃度Zeta電位分析儀的廠家，其產(chǎn)品被眾多企業(yè)和大學(xué)使用，并獲得優(yōu)良的口碑

摘要 顆粒粒度測(cè)量的性能特點(diǎn)：1.高效的光路系統(tǒng)：采用固態(tài)激光器和一體化光纖探頭搭建而成的光路滿足空間相干性的要求，提高了散射光信號(hào)的信噪比，激光器波長為532nm，**功率50mW

摘要 公司從成立初，就“儀器精，方能通天下

摘要 zeta電位測(cè)量——新型技術(shù)Litesizer™500采用新型（歐洲2735870）PALS技術(shù)cmPALS，可實(shí)現(xiàn)更短的測(cè)量時(shí)間以及更低的施加電場(chǎng)

摘要 儀器名稱：Zeta電位和分子量分析儀品牌:馬爾文型號(hào)：NanoZS系列產(chǎn)地：英國儀器介紹：1.新一代ZetasizerNanoZS可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測(cè)量三項(xiàng)最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta電位和分子量

摘要 產(chǎn)品描述：ZetasizerNanoZSP在一種緊湊型裝置中包含了三種技術(shù)，且擁有一系列選件及附件，以便優(yōu)化并簡化不同樣品類型的測(cè)量

摘要 產(chǎn)品描述：ZetasizerNanoZS90在一種緊湊型裝置中包含了三種技術(shù)，且擁有一系列選件及附件，以便優(yōu)化并簡化不同樣品類型的測(cè)量

摘要 產(chǎn)品描述：ZetasizerPro采用非侵入背散射(NIBS®)技術(shù)，可在廣泛的濃度范圍內(nèi)對(duì)顆粒和分子大小進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量

摘要 產(chǎn)品描述：ZetasizerUltra綜合了功能強(qiáng)大的DLS與ELS系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射(NIBS®)和*的多角動(dòng)態(tài)光散射(MADLS)技術(shù)來測(cè)量顆粒與分子粒度

摘要高分辨率Zeta電位分析儀WALLIS是專用于Zeta電位儀WALLISζ是一種創(chuàng)新的zeta電位儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*且*的測(cè)量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補(bǔ)充，用于研究膠體...

摘要 便攜式土壤氧化還原電位儀器詳細(xì)資料：可測(cè)量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）

摘要 便攜式氧化還原電位儀詳細(xì)資料：可測(cè)量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）

摘要 便攜式土壤氧化還原電位儀器詳細(xì)資料：可測(cè)量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）

摘要顯微成像法zeta電位分析儀的密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。ZetaCompact®采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。1、 一種模塊化工具，用于解決測(cè)量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇...

摘要上海梓夢(mèng)科技有限公司代理的法國CAD公司生產(chǎn)的流動(dòng)電位法zeta電位分析儀,ZetaCAD;是用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的Zeta電位分析儀.該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒,纖維和平坦的表面,或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣...

摘要 簡單介紹： 表面電位儀ME-244A根據(jù)ISOPROBE® 、檢測(cè)時(shí)不受探頭設(shè)置距離的限制、快速響應(yīng)（＜2MS、1KV）和±3KV的測(cè)量范圍，作為表面電位儀的標(biāo)準(zhǔn)器、應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。

摘要 簡單介紹： 表面電位儀ME-244AL使用1017小型探頭，檢測(cè)范圍±15V、響應(yīng)速度2MS、外觀同244A一樣、是*適應(yīng)于接觸電位的檢測(cè)。

摘要 產(chǎn)品介紹263A恒電流/恒電位儀是很多實(shí)驗(yàn)室的理想選擇，它非常適用于對(duì)性能要求高而預(yù)算又無法確定的研究人員，它的可升級(jí)性使得配置極為靈活，令人印象深刻的性價(jià)比，對(duì)如今的電化學(xué)科學(xué)家來說，有著極大的價(jià)值

摘要NS-90Z 納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進(jìn)和吸收馬爾文帕納科公司（Malvern Panalytical）納米顆粒表征技術(shù)后，在NS-90納米粒度分析儀基礎(chǔ)上進(jìn)一步增加zeta電位測(cè)試功能而推出的新一款產(chǎn)品。NS-90Z具有*的粒度和電位分析...

摘要 FPATouch小巧、精致、便于攜帶觸屏面板，一鍵測(cè)試Zeta電位分析儀NEW用于快速、準(zhǔn)確的測(cè)試?yán)w維懸浮液的Zeta電位。

摘要 產(chǎn)品簡介：ZetaPALS是目前能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器

摘要 zeta電位儀產(chǎn)品簡介：ZetaPlus是簡單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量儀器，其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況

摘要 產(chǎn)品簡介：精確的介電常數(shù)值對(duì)于Zeta電位的測(cè)量與計(jì)算是非常重要的

摘要 吉時(shí)利Keithley 2450-EC 2460-EC 恒電位儀商品品牌：吉時(shí)利Keithley商品型號(hào)：2450-EC 2460-EC商品名稱：恒電位儀商品成色：8.5成以上性能：完好應(yīng)用領(lǐng)域:電子工業(yè)商品價(jià)格：面議或電議

摘要簡要描述：美國的Zeta-Meter 4.0+ 系列Zeta電位儀是30年前，早開發(fā)的一種簡捷可靠的儀器來測(cè)定電泳趟度和Zeta電位。我們的Zeta-Meter System4.0延續(xù)了這個(gè)傳統(tǒng)、使檢測(cè)更加方便。該系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)是可測(cè)濃度很高，zg為80%質(zhì)量含量而且工作...

摘要 功能：納米粒度/Zeta電位(顆?；蚱桨?分布分析儀分析范圍：DelsaNanoC納米粒度/Zeta電位分布分析儀：0

摘要 美國MAS超聲粒度儀采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；