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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀-Zeta電位儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌
  • 所在地北京市
  • 更新時(shí)間2020-01-20
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)其他
  • 所在地區(qū)北京市
  • 產(chǎn)品數(shù)量39
  • 人氣值3487
產(chǎn)品標(biāo)簽

粒度電位分析儀

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同類(lèi)產(chǎn)品

美國(guó)布魯克海文儀器公司上海代表處是美國(guó)布魯克海文儀器公司在中國(guó)的法定代表機(jī)構(gòu)。

        美國(guó)布魯克海文儀器公司(BIC)是世界上的專(zhuān)業(yè)從事設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)顆粒特性表征以及分子量測(cè)定儀器的高技術(shù)公司,其專(zhuān)家組成員包括在光散射研究領(lǐng)域具聲望的科學(xué)家,在他們的*下,并經(jīng)過(guò)*的研究與實(shí)踐,確立了BIC在光散射領(lǐng)域的主導(dǎo)者地位。

      九十年代以來(lái),BIC不斷推出新產(chǎn)品,包括相位光散射原理的Zeta電位分析儀(ZetaPALS)、高濃度粒度分析儀(BI-FOQELS)、實(shí)時(shí)在線(xiàn)粒度測(cè)量系統(tǒng)(ACOS)、數(shù)字相關(guān)器(TurboCorr)、以及多角度激光光散射儀(BI-MwA)與動(dòng)靜態(tài)光散射系統(tǒng)(BI-200SM)等等,這些儀器所采用的技術(shù)都代表著該領(lǐng)域的很高成就。

²*臺(tái)數(shù)字相關(guān)器
²*塊單卡式數(shù)字相關(guān)器
²*個(gè)將背向光散射技術(shù)用于商業(yè)儀器
²*個(gè)使用插入式電極用于Zeta電位測(cè)量
²*個(gè)將X-射線(xiàn)用于粒度分析
²*個(gè)將PALS技術(shù)商業(yè)化
²*個(gè)將CCD檢測(cè)器用于多角光散射
²*臺(tái)實(shí)時(shí)在線(xiàn)粒度測(cè)量系統(tǒng)(ACOS)

        BIC全面的光散射儀器為客戶(hù)提供系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)解決方案。目前,BIC的儀器已廣泛應(yīng)用于包括中國(guó)在內(nèi)的各國(guó)*實(shí)驗(yàn)室的研究中。BIC的總部設(shè)在美國(guó)的紐約,在40多個(gè)國(guó)家設(shè)有分支機(jī)構(gòu)。在中國(guó)設(shè)有技術(shù)服務(wù)中心和3個(gè)代表處,為客戶(hù)提供及時(shí)周到的技術(shù)枝持與售后服務(wù)。  ?

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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量,是目前市場(chǎng)上功能*大的粒度與Zeta電位分析儀。
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀-Zeta電位儀 產(chǎn)品詳情

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量,是目前市場(chǎng)上功能*大的粒度與Zeta電位分析儀。

詳細(xì)說(shuō)明:

    作為先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠(chǎng)家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,至高可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了*以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能*大的粒度與Zeta電位分析儀。

NanoBrook產(chǎn)品系列

項(xiàng)目

173

173Plus

Omni

ZetaPALS


 

粒度測(cè)量功能

分子量測(cè)量功能

Zeta電位測(cè)量功能


 


 

術(shù)


 


 

數(shù)

散射角

15°與173°

15°、90°與173°

粒度范圍

0.3nm-10μm

分子量測(cè)定范圍

342~2×107Dalton

相關(guān)器

4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線(xiàn)性通道

Zeta電位適用粒度范圍

1nm~100μm

Zeta電位范圍

-500mV~500mV

電導(dǎo)率范圍

0-30S/m

電泳遷移率范圍

10-11~10-7m2/V.s

電極

開(kāi)放式持久型電極

統(tǒng)

數(shù)

溫控范圍與精度

-5~110℃,±0.1℃

激光源

40mW光泵半導(dǎo)體激光器

檢測(cè)器

PMT或APD

分析軟件

Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

大小及重量

233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg


 

BI-ZTU自動(dòng)滴定儀

可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

BI-870介電常數(shù)儀

直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值

BI-SV10粘度計(jì)

用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度

●代表“有”  ○代表“無(wú)”

 

典型應(yīng)用  

1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

3.多糖、藥物制備

4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

5.油包水、水包油體系

6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

7.食品、化妝品配方

8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑


 

應(yīng)用案例

    不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響          不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響         Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

    通過(guò)調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)

 

技術(shù)參數(shù)

1.粒度測(cè)量范圍:0.3nm~10μm

2.Zeta電位測(cè)量適用粒度范圍:1nm~100μm

3.樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))

4.典型精度:1%

5.樣品類(lèi)型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

6.樣品體積:1~3ml

7.分子量測(cè)定范圍:342~2×107Dalton

8.Zeta電位范圍:-500mV~500mV

9.電導(dǎo)率范圍:0~30S/m

10.電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s

11.電場(chǎng)強(qiáng)度:0 ~ 60 kV/m

12.電極:持久性開(kāi)放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)

13.溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

14.pH測(cè)量范圍:1-14

15.激光源:40mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)

16.檢測(cè)器:高靈敏雪崩型二極管(APD)

17.相關(guān)器:4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線(xiàn)性通道,采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配

18.自動(dòng)趨勢(shì)分析:對(duì)時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

19.散射角:15°、90°與173°

20.室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無(wú)冷凝

21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

22.電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

23.計(jì)算機(jī)(選件):商用計(jì)算機(jī),包括WindowTM軟件

24.自動(dòng)滴定儀(選件):獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng),可對(duì)pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 實(shí)物圖:


 

關(guān)鍵詞:粘度計(jì) 水處理
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