精品一区二区国语对白,国产成人精品三上悠亚久久,欧美性猛交xxxx88,亚洲中文字幕国产av,极品少妇被猛得白浆直流草莓视频,91精品成人www

普賽斯200G高速誤碼測(cè)試系統(tǒng)(PSS BERT18881)是一款200G高速信號(hào)的誤碼性能分析儀，支持9.95G---15G，24.33G---32G內(nèi)任意選...

普賽斯400G高速誤碼測(cè)試系統(tǒng)(PSS BERT19881)是一款針對(duì)于多通道PAM4和NRZ應(yīng)用的高速信號(hào)誤碼性能分析儀，支持8x56Gb/s PAM4信號(hào)測(cè)...

普賽斯2.5G誤碼高速儀支持125Mbps-4.25Gbps高速信號(hào)的誤碼性能分析儀，BERT11221支持SFP接口光發(fā)光收及SMA接口電發(fā)電收共兩路高速信號(hào)...

PSS LIV綜合測(cè)試儀適用于光通行業(yè)的LD、TO-CAN、TOSA、DML、EML、SOA-EML以及帶TEC的碟形器件的溫度控制、LIV特性曲線、PV特性曲...

普賽斯的探測(cè)器耦合測(cè)試儀（PSS RCML20192），用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)兩種類型的各種腳位順序ROSA/BOSA器件的耦合生產(chǎn)與測(cè)試...

普賽斯采用插卡式組合方案，根據(jù)客戶需求，靈活配置，解決各種結(jié)構(gòu)復(fù)雜的OSA器件的測(cè)試問題。既可以實(shí)現(xiàn)BOSA器件的快速測(cè)試，又可以實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)復(fù)雜的Combo PO...

普賽斯采用插卡式組合方案，根據(jù)客戶需求，靈活配置，解決各種結(jié)構(gòu)復(fù)雜的OSA器件的測(cè)試問題。既可以實(shí)現(xiàn)BOSA器件的快速測(cè)試，又可以實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)復(fù)雜的Combo PO...

普賽斯PSS DCA10021光采樣示波器用于發(fā)射機(jī)性能指標(biāo)測(cè)試，支持光、電接口輸入，光通道具備10Gbps及以下光口典型濾波器，電通道帶寬高達(dá)20GHz。采用...

DCA25021光采樣示波器用于發(fā)射機(jī)性能指標(biāo)測(cè)試，支持光、電接口輸入，支持NRZ和PAM4信號(hào)測(cè)試，光通道帶寬30GHz配備多種典型濾波器，電通道帶寬高達(dá)50...

普賽斯光功率計(jì)采用大面積探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)，具有重復(fù)性好，采樣速率快、穩(wěn)定性好、高分辨率，測(cè)量量程大等優(yōu)點(diǎn)，儀器采用LCD同步顯示所有通道測(cè)量結(jié)果；儀器標(biāo)配RS23...

普賽斯高功率VCSEL測(cè)試機(jī)用于垂直腔面發(fā)射類型激光器芯片的Wafer測(cè)試，支持100ns級(jí)脈寬30A電流的LIV、光譜、近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)相關(guān)參數(shù)的測(cè)試，視覺自動(dòng)識(shí)別...

普賽斯APD臺(tái)式老化監(jiān)控電源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品質(zhì)。該系統(tǒng)通過給AP...

硬件支持小電流和大電流兩個(gè)檔位，兼容VECSEL和FP/DFB激光器64路老化板作為通用載體，可以實(shí)現(xiàn)盤測(cè)、老化不同工位直接的轉(zhuǎn)料，提高生產(chǎn)效率

PSS PLT1403脈沖源適用于激光雷達(dá)TO、VCSEL陣列等大功率激光器的測(cè)試，支持ns窄脈沖、直流PIV特性曲線掃描測(cè)試和特性參數(shù)計(jì)算，支持光譜特性測(cè)試（...

普賽斯高功率BAR條自動(dòng)測(cè)試機(jī)支持大電流、ns級(jí)窄脈沖條件測(cè)試，全自動(dòng)測(cè)試BAR條LIV曲線，光譜，遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)。全自動(dòng)上下料，支持多種規(guī)格料盒上料，支持多種規(guī)格料...

普賽斯高功率BAR條自動(dòng)測(cè)試機(jī)支持大電流、ns級(jí)窄脈沖條件測(cè)試，全自動(dòng)測(cè)試BAR條LIV曲線，光譜，遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)。全自動(dòng)上下料，支持多種規(guī)格料盒上料，支持多種規(guī)格料...

本設(shè)備應(yīng)用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測(cè)試、SMSR測(cè)試及背光抽測(cè)并對(duì)不同測(cè)試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片wafer藍(lán)膜上料，CHIP-ID自動(dòng)識(shí)別記憶...

本設(shè)備應(yīng)用于可見光CHIP常溫PIV測(cè)試、光譜測(cè)試并對(duì)不同測(cè)試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片藍(lán)膜上料，自動(dòng)尋料、識(shí)別定位，通過藍(lán)膜頂針剝離芯片、吸嘴吸取、機(jī)械手完成...

本設(shè)備應(yīng)用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測(cè)試、SMSR測(cè)試及背光抽測(cè)并對(duì)不同測(cè)試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片wafer藍(lán)膜上料，CHIP-ID自動(dòng)識(shí)別記憶...

本設(shè)備應(yīng)用于可見光CHIP常溫PIV測(cè)試、光譜測(cè)試并對(duì)不同測(cè)試結(jié)果進(jìn)行歸類分檔篩選。芯片藍(lán)膜上料，自動(dòng)尋料、識(shí)別定位，通過藍(lán)膜頂針剝離芯片、吸嘴吸取、機(jī)械手完成...