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可見光BAR條自動測試機用于巴條LIV曲線,光譜,遠(yuǎn)場自動測量。全自動上下料,支持料盒上料,支持料盒或藍膜下料。常溫、高溫雙溫測試,測試溫度可由用戶自定。探針加...
APD集成式老化系統(tǒng)用于光通信行業(yè)的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性評估和老化篩選,最多支持3072pcs的單次老化。該系統(tǒng)可...
普賽斯可見光TO自動盤測機,能實現(xiàn)TO56自動LIV綜合測試、光譜測試,支持TO56任意引腳封裝測試,采用一塊測試板測試64顆TO56,具有高集成度、高速、高穩(wěn)...
TOCAN自動化測試系統(tǒng)主要應(yīng)用于TO的LIV、光譜、發(fā)散角自動測試,支持任意引腳封裝的TO56/TO9,設(shè)備支持TO自動上料、自動下料,可兼容客戶使用的上下料...
PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合時的在線監(jiān)測。系統(tǒng)給OSA器件的LD提供驅(qū)動電源,以及實時監(jiān)測耦合過程中的系列相關(guān)性能指標(biāo)??杀O(jiān)測參數(shù):閾...
普賽斯光通信VCSEL測試機用于面發(fā)射類型VCSEL的Wafer測試,支持芯片的LIV、光譜相關(guān)參數(shù)的測試,視覺自動識別,全自動完成每一顆芯片的測試;支持常溫、...
普賽斯高功率VCSEL測試機用于面發(fā)射類型VCSEL的Wafer測試,支持芯片的LIV、光譜、近場、遠(yuǎn)場相關(guān)參數(shù)的測試,視覺自動識別,全自動完成每一顆芯片的測試...
普賽斯BOSA三溫測試系統(tǒng)支持BOSA器件工業(yè)級低溫、常溫、高溫的性能測試,包括LIV、APD光電特性測試以及光譜測試。系統(tǒng)采樣TEC控溫,溫度范圍為-40℃~...
OSA測試夾具用于插針或軟帶形式的OSA器件的測試,測試板可配備測試盒,起靜電防護和固定作用,軟帶夾具結(jié)構(gòu)設(shè)計靈活,壓接軟帶引腳連接可靠,上下料方便高效。
OSA測試夾具用于插針或軟帶形式的OSA器件的測試,測試板可配備測試盒,起靜電防護和固定作用,軟帶夾具結(jié)構(gòu)設(shè)計靈活,壓接軟帶引腳連接可靠,上下料方便高效。
普賽斯數(shù)字光衰減器系列具備單模(1270nm~1610nm)和多模(850nm)的單、四、八通道等多版本應(yīng)用,具有低插入損耗,高衰減精度和重復(fù)性等特點;同時光進...
普賽斯數(shù)字光衰減器系列具備單模(1270nm~1610nm)和多模(850nm)的單、四、八通道等多版本應(yīng)用,具有低插入損耗,高衰減精度和重復(fù)性等特點;同時光進...
普賽斯OPS光開關(guān)主要用于多通道光路的切換。設(shè)備采用的高性能核心器件進行控制,具有工作穩(wěn)定,切換速度快,插入損耗低,溫度相關(guān)損耗和偏振相關(guān)損耗低,回?fù)p低,隔離度...
OPS1X404光開關(guān)主要用于四路1X4光開關(guān)切換。設(shè)備采用的高性能核心器件進行控制,具有工作穩(wěn)定,切換速度快,插入損耗低,溫度相關(guān)損耗和偏振相關(guān)損耗低,回?fù)p低...
MUX07071是一個7X7矩陣式電開關(guān)卡,主要用于復(fù)雜情況下多個線路的任意切換,是各種開關(guān)結(jié)構(gòu)中最靈活的一種結(jié)構(gòu),電開關(guān)卡需要配置電開關(guān)主機使用,可適用于MS...
普賽斯PSS RFSW10402是一種功能齊全,操作簡單,應(yīng)用全面的射頻信號切換儀器。它的主要功能是將多路射頻信號中的任一路或幾路通過控制邏輯連通,以實現(xiàn)不同信...
MUX24021提供了兩個獨立的1X24雙極點多路復(fù)用器的存儲體。對于一般的切換用途是非常理想的。MUX24021電開關(guān)卡預(yù)留背板接口,方便后期主機升級測量功能...
普賽斯MUX25051電開關(guān)產(chǎn)品是針對多路直流/交流多路測試以及數(shù)據(jù)采集的系統(tǒng)方案。它體積小巧,支持25選5引腳切換,可以方便快速的搭建起高效的多路切換系統(tǒng)。
普賽斯MUX64081電開關(guān)產(chǎn)品是針對多路直流/交流多路測試以及數(shù)據(jù)采集的系統(tǒng)方案。它體積小巧,支持64選8引腳切換,可以方便快速的搭建起高效的多路切換系統(tǒng)。
普賽斯PSS COBT2000系列自動測試系統(tǒng),適用于VCSEL多模封裝光學(xué)耦合前后的模塊測試需求。設(shè)備不僅驗證COB模塊本身的功能和光學(xué)部分的可靠性,還用于V...
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