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武漢普賽斯電子股份有限公司
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窄脈沖激光雷達(dá)晶圓測(cè)試機(jī)

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地武漢市

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更新時(shí)間:2025-02-05 07:22:50瀏覽次數(shù):76次

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普賽斯高功率VCSEL測(cè)試機(jī)用于垂直腔面發(fā)射類(lèi)型激光器芯片的Wafer測(cè)試,支持100ns級(jí)脈寬30A電流的LIV、光譜、近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺(jué)自動(dòng)識(shí)別,全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試;支持Chuck設(shè)置25~85℃溫度測(cè)試。標(biāo)配6inch Wafer測(cè)試,兼容2、4inch晶圓及破片測(cè)試,向用戶開(kāi)放測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù),用于后續(xù)篩分工序。
    • 商品名稱(chēng): 窄脈沖激光雷達(dá)晶圓測(cè)試機(jī)
    • 型號(hào): PSS WT-VL602
    • 描述: 100ns窄脈沖測(cè)試

    普賽斯高功率VCSEL測(cè)試機(jī)用于垂直腔面發(fā)射類(lèi)型激光器芯片的Wafer測(cè)試,支持100ns級(jí)脈寬30A電流的LIV、光譜、近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)相關(guān)參數(shù)的測(cè)試,視覺(jué)自動(dòng)識(shí)別,全自動(dòng)完成每一顆芯片的測(cè)試;支持Chuck設(shè)置25~85℃溫度測(cè)試。標(biāo)配6inch Wafer測(cè)試,兼容2、4inch晶圓及破片測(cè)試,向用戶開(kāi)放測(cè)量數(shù)據(jù)庫(kù),用于后續(xù)篩分工序。

    產(chǎn)品應(yīng)用

    • 3D傳感、激光雷達(dá)、大功率激光等應(yīng)用的VCSEL芯片測(cè)試
    • 大功率面發(fā)射芯片的驗(yàn)證測(cè)試

     

     

  • 產(chǎn)品特點(diǎn)

    • 集成自制超窄脈沖 SMU、最小脈沖到 100ns,電流 30A

     


    • 積分球同步收光,支持短脈沖 LIV 測(cè)試和光譜測(cè)試

     


    • 開(kāi)發(fā)探針,電感系數(shù)小,支持窄脈沖大電流(最小脈沖100ns,電流30A)測(cè)試,雙探針?biāo)木€法測(cè)試,探針壓力可調(diào);探針電動(dòng)滑臺(tái)控制,實(shí)現(xiàn)可尋址測(cè)試和多通道測(cè)試

     


    • 支持晶圓位置識(shí)別和自動(dòng)調(diào)整
    • 測(cè)試載臺(tái)采用高導(dǎo)熱材料,TEC溫控,溫度范圍可支持25~85°C
    • 支持快速光譜測(cè)試
    • 支持NF均勻性與壞點(diǎn)檢測(cè)及M2因子,束腰

     

     

    • 支持FF測(cè)試發(fā)散角測(cè)試

     

     

    • 軟件支持精確定位圖、坐標(biāo)數(shù)據(jù)生成,數(shù)據(jù)庫(kù)自動(dòng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)及圖片

     

     

     

  • 參 數(shù)

    指 標(biāo)

    適合Wafer尺寸

    2寸、4寸和6寸

    芯片加電方式

    支持同面和異面類(lèi)型的VCSEL加電

    脈沖電流輸出

    范圍0-30A,精度0.5%rdg±250mA,最小脈寬100ns,Duty cycle:大于等于1A電流為<0.1%, 小于1A電流為<50%

    電壓測(cè)量

    范圍0-40V,精度0.5%rdg±250mV

    功率測(cè)試

    采用積分球收光,范圍0-200W,精度0.5% FS±10mW

    波長(zhǎng)范圍

    400-1100 nm,其他波長(zhǎng)支持定制

    輸出特性曲線

    (1)LIV特性曲線  (2) 光譜曲線

    LIV測(cè)試參數(shù)

    Ith,V,Ir,SE,Rs,P,PCE,Wavelength,F(xiàn)WHM等

    近場(chǎng)測(cè)試參數(shù)

    發(fā)光孔數(shù),暗壞點(diǎn)、一致性,另可定制M2、孔發(fā)散角、束腰測(cè)試功能

    遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試參數(shù)

    發(fā)散角(1/e²,D86,D50)、DIP

    光譜參數(shù)

    λp 峰值波長(zhǎng)

    可尋址功能

    探針電動(dòng)滑臺(tái)控制,實(shí)現(xiàn)可尋址測(cè)試。

    激光測(cè)距

    激光測(cè)距用于對(duì)Chuck和晶圓進(jìn)行測(cè)高找平,精度≤1um。

    測(cè)試臺(tái)溫控范圍

    25~85℃,穩(wěn)定性<±1℃

    設(shè)備尺寸

    不含信號(hào)燈及顯示器,1250mm(深)×1100mm(寬)×1750mm(高)

    氣源要求

    正壓:無(wú)

    負(fù)壓:≦-80KPa

    電源

    AC 220V/16A 50Hz

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