μPhase® SPHERO UP - 生產(chǎn)中檢測(cè)非球面零件的干涉儀設(shè)備
| 這些緊湊和經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的全包式干涉儀比較適合生產(chǎn)。由于它們占地面積小，它們可以放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊，樣品在加工后直接測(cè)量。μPhase® Sphero UP向上測(cè)量球形樣品，樣品位于儀器的頂部。 |  球面透鏡的干涉測(cè)量 |
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主要特征
*用于測(cè)量球形樣品；
*直徑可達(dá)50mm；
*占地面積??；
*振動(dòng)不敏感；
*測(cè)量系統(tǒng)不需要重新校準(zhǔn)；
*直觀和簡(jiǎn)單的處理使不熟悉的人員可以使用；
μShape干涉儀軟件
| 每個(gè)μPhase干涉儀提供了一個(gè)應(yīng)用的μShape軟件版本，它用于測(cè)量平面、球面、圓柱面、復(fù)曲面和非球面和波陣面的形貌，適用于生產(chǎn)，實(shí)驗(yàn)室的研究。附加模塊可以使軟件適應(yīng)客戶特定的需求，即使購(gòu)買了μPhase系統(tǒng)也可以隨時(shí)添加這些模塊。 該軟件控制和顯示測(cè)量結(jié)果，存儲(chǔ)和記錄所有測(cè)量原始數(shù)據(jù)，并確保透明度和可追溯性。 憑借其清晰的驅(qū)動(dòng)用戶界面，μShape功能的模塊。 |  μShape干涉儀軟件 |
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應(yīng)用
| *具有不同訪問權(quán)限的不同用戶級(jí)別； *敏感問題在線幫助； *輕松配置的模板，用于測(cè)量任務(wù)和分析： *圖形窗口可以以多種圖形格式存儲(chǔ)（bmp，jpg...）; *將單個(gè)參數(shù)或選定數(shù)據(jù)字段導(dǎo)出為文本，二進(jìn)制或其他常用的文件格式（例如：QED，Zygo，XYZ，DigitalSurf）以進(jìn)行外部處理； *測(cè)量結(jié)果以二維或三維的參數(shù)或圖形顯示為橫截面； *測(cè)量協(xié)議一目了然的顯示結(jié)果，并且可以進(jìn)行廣泛配置，包括客戶徽標(biāo)； *常用的程序功能的快捷方式； *各種程序模式允許使用集成的實(shí)時(shí)相機(jī)圖像單獨(dú)顯示校準(zhǔn)和測(cè)量過程及其參數(shù)； *使用μShape程序文件中的樣本數(shù)據(jù)存儲(chǔ)所有參數(shù)和設(shè)置，包括窗口大小和位置； *定期更新可持續(xù)改進(jìn)； |  多個(gè)孔徑附加模塊 |
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附加模塊
為便于測(cè)量擴(kuò)展與進(jìn)一步分析，μShape軟件提供了多種拓展模塊，如下所示：
*在球面或CGH設(shè)置中分析非球面；
*分析圓柱面或環(huán)面；
*外部通訊接口，允許外部程序控制干涉儀，如在自動(dòng)化系統(tǒng)中；
*可檢測(cè)玻璃玻璃板的同質(zhì)性；
*可聚焦或不聚焦元件與系統(tǒng)的MTF的分析；
*可一次測(cè)量多個(gè)孔徑，如在拋光面上；
*同時(shí)統(tǒng)計(jì)分析多個(gè)孔徑；
*棱鏡和楔角的檢測(cè)與分析；
*考慮已知樣品偏差，例如光學(xué)設(shè)計(jì)偏差；
*軟件分析工具可彌補(bǔ)車床加工的誤差；
*晶片分析；
*粗糙度與PSD分析；
*靜態(tài)條紋分析，用于不穩(wěn)定環(huán)境中進(jìn)行快速測(cè)量；
軟件附加項(xiàng)
Asphere分析模塊
非球面模塊在非球面設(shè)置中使用計(jì)算機(jī)生成的全息圖分析旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的非球面，在球面設(shè)置中分析非球面。可輸入和存儲(chǔ)非球面數(shù)據(jù)，支持多種格式。非球面擬合能夠除去調(diào)整誤差和系統(tǒng)的設(shè)置的誤差。
Cylinder分析模塊
Cylinder模塊可在cylindrical設(shè)置中分析圓柱形的樣品（使用CGH），圓柱型擬合能夠除去調(diào)整誤差，
外部接口模塊
外部接口模塊允許μShape和外部軟件之間進(jìn)行通訊。如Lab VIEW。
光纖連接模塊
光纖連接附加模塊根據(jù)IEC慣例提供PC（物理接觸）光纖連接器端面的分析，一次完成主要參數(shù)的測(cè)量并可選擇“通過/未通過”的結(jié)果。
同質(zhì)性模塊
在這一模塊中，兩個(gè)影響通過樣品的光路參數(shù)——同質(zhì)性（折射率變化）和厚度變化能夠被確定。
橫向拼接模塊
借助外部控制與分析程序μStitch，您的干涉儀可以以子孔徑測(cè)量較大的平面或球面樣品，并將它們拼接在一起，獲得整體的表面面型，依需求可添加橫向定位系統(tǒng)。
數(shù)字模塊
在這個(gè)模塊中，不同的數(shù)據(jù)圖可通過數(shù)字計(jì)算分析生成附加結(jié)果圖。暫不可進(jìn)行矩陣操作。
多孔徑分析模塊
該模塊能夠在一個(gè)視場(chǎng)角內(nèi)對(duì)未連接的子孔徑進(jìn)行測(cè)量和分析，例如測(cè)量固定在拋光面上的部分。
多重統(tǒng)計(jì)分析
當(dāng)樣品規(guī)格規(guī)定不同樣品子區(qū)域的不同限制時(shí)。MultiStat模塊可在一次測(cè)量中完成相關(guān)的計(jì)算，并分列出每個(gè)區(qū)域的結(jié)果。
棱鏡分析模塊
90°直角棱鏡的角誤差與楔角角度可通過分析角度偏差造成的干涉條紋測(cè)得圖樣。
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)模塊
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)能夠考慮附加的樣品誤差，例如，與設(shè)計(jì)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)誤差參數(shù)。
工具補(bǔ)償模塊
應(yīng)用于μShape軟件的工具補(bǔ)償模塊能夠補(bǔ)償轉(zhuǎn)臺(tái)的準(zhǔn)直誤差。
晶片分析模塊
晶片分析允許矩形區(qū)域內(nèi)尺寸的圓形孔徑進(jìn)一步分類，并通過算數(shù)平均值表征每個(gè)字區(qū)域。
Torus分析模塊
在Torus軟件的輔助下，附加環(huán)形樣品在toric或spherical設(shè)置中被分析。余下的調(diào)整誤差可通過環(huán)形擬合消除。
楔形分析模組
楔形分析模組使用待測(cè)樣品后的輔助鏡，可經(jīng)一次測(cè)量確定平面鏡與光學(xué)平板的楔角。
用戶定制模組
TRIOPTICS開發(fā)了軟件的干涉儀的測(cè)量功能，并提供可定制的測(cè)量程序，計(jì)算特定參數(shù)，依需求顯示和輸出數(shù)據(jù)。您可聯(lián)系我們滿足您的更多測(cè)量需求。
| | μPhase SPHERO UP |
| 樣品類型 | 球面 |
| 樣品尺寸（測(cè)量范圍） | 可達(dá) φ 50mm |
| 校準(zhǔn)工具 | 手動(dòng)xy方向調(diào)整、傾角調(diào)整和聚焦 |
| 測(cè)量半徑范圍 | 通常 10 - 150mm |
升級(jí)和配件
μPhase具有模塊化的系統(tǒng)，其應(yīng)用范圍可通過升級(jí)軟件與配件進(jìn)行拓展，下列配件與功能都可額外購(gòu)買。
μPhase 500高分辨率
μPhase 500相機(jī)分辨率可被升級(jí)為1000 x 1000像素，該功能可在購(gòu)買時(shí)或之后實(shí)現(xiàn)。
配件
多種測(cè)量鏡頭
μPhase設(shè)備都具有卡口連接功能，可實(shí)現(xiàn)不同系統(tǒng)配置之間快速和簡(jiǎn)便的交換，使干涉儀的應(yīng)用在購(gòu)買后仍可繼續(xù)擴(kuò)大。
平面、球面參考表面
各種直徑的無涂層表面或鏡面表面，以實(shí)現(xiàn)對(duì)比度和測(cè)試目標(biāo)適應(yīng)性。
分析
不直接連接μPhase 硬件也可進(jìn)行離線分析和文檔管理。
