蔡司工業(yè)顯微鏡 蔡司掃描電鏡
ZEISS Sigma系列產(chǎn)品
用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能
將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
蔡司工業(yè)顯微鏡 蔡司掃描電鏡
ZEISS Sigma系列產(chǎn)品
用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能
將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像
使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。
使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。
使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。
用戶友好,操作簡(jiǎn)單
