摘要 產(chǎn)品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-388光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-300光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-20臺式光學(xué)輪廓儀的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學(xué)量測技術(shù)

摘要 1.北京智能型臺階儀測試在3分鐘的定量負(fù)荷后心率變化情況，評定學(xué)生心血管功能，反映心肺機(jī)能水平 2.支持從電腦上集中一次性下載學(xué)生信息數(shù)據(jù)到主機(jī),無需人工錄入, 3.主機(jī)支持脫機(jī)測試和瀏覽/查詢,測完后可以將成績上傳到電腦上,然后

摘要 性能指標(biāo)掃描時最小正壓力:0.03mg(軟件可編程選擇和自動控制,無需手動)

摘要 儀器名稱：臺階儀，膜厚儀，探針接觸式輪廓儀，3D輪廓儀型號美國KLA-TencorD-120檢測項目：1、薄膜、涂層厚度測量；2、表面粗糙度+三維形貌；3、表面粗糙度測量；4、三坐標(biāo)測量+三維形貌測量；5、2D薄膜應(yīng)力測量；6、2D彎曲度和形狀測量

摘要 簡要描述：桌面型探針式表面輪廓儀

摘要三維表面測量儀光學(xué)輪廓儀臺階儀Super Focus3000是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器?？蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、國...

摘要 三維表面測量儀輪廓儀臺階儀（納米級）NanoFocus2000是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款檢測設(shè)備,測量精度重復(fù)性達(dá)到世界較高水平;關(guān)鍵硬件采用美國、德國、日本等;配備進(jìn)口第三方校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件 高性價比微觀形貌測量設(shè)備;迅捷、高效的上等售后服務(wù)

摘要 臺階儀膜厚儀探針接觸式輪廓儀美國KLA，垂直分辨率:0.38A，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜材料的開發(fā)研究工作上極為重要。

摘要布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5。第十代 DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管...

摘要 一、儀器的功能及用途能夠在大氣環(huán)境下準(zhǔn)確地測量樣品表面臺階變化；使用金剛石（鉆石）探針接觸直動式測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用

摘要這款三維臺階儀是德國進(jìn)口的高精度光學(xué)臺階儀器,也是一款光學(xué)表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進(jìn)口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要 P-7可以對nm-µm級臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接

摘要 品 牌：Bruker 產(chǎn) 地：德國 型 號：Dektak XTL

摘要 產(chǎn)品描述MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)

摘要 臺階儀S1400G-LCD

摘要此型工業(yè)用臺階儀基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。...

摘要 臺階儀集合了共焦光學(xué)形貌儀，WLI白光干涉形貌儀，原子力顯微鏡，接觸和非接觸式雙模式表面形貌檢測

摘要 探針式輪廓儀新-升級到性能德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺階儀

摘要 全自動探針臺階儀HRP-260

摘要 D-600 探針式輪廓儀 膜厚儀 臺階儀

摘要 全自動臺階儀P170

摘要 臺階儀 探針式輪廓儀 膜厚儀 P17

摘要 臺階儀 探針式輪廓儀 膜厚儀 P7

摘要 P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P170 全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺階儀

摘要 D500 高精度臺階儀

摘要 D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 Kosaka ET150臺階儀 KOSAKAET150基于WindowsXP系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS及平板顯示等。

摘要 我們做為世界高精度臺階儀、光學(xué)輪廓儀的，是生產(chǎn)悠久的公司

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺階儀

摘要 產(chǎn)品概述：●高精度．安定性．機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測定的機(jī)型

摘要這款三維臺階儀是德國進(jìn)口的高精度光學(xué)臺階儀器,也是一款光學(xué)表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進(jìn)口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要KOSAKA 臺階儀ET4000系列產(chǎn)品概述：● 高精度．安定性．機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測定的機(jī)型?！?是多機(jī)能的全自動微細(xì)形狀測定機(jī)，針對用途及樣品尺寸有多種機(jī)型可供選擇?！?ET4000A/ ET4000AK一可實現(xiàn)2D...

摘要 KOSAKA 臺階儀產(chǎn)品概述：● ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定?！?ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測量過程及微小的測定力可對應(yīng)軟質(zhì)樣品表面?！?該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現(xiàn)性高。

摘要 Alpha-Step D-500臺階儀探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測量。 通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 Alpha-Step D-600 臺階儀探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測量。 通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 P-17 臺階儀因而具備出色的測量穩(wěn)定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能，程序設(shè)置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識別、排序和特征檢測實現(xiàn)全自動測量。