使用4200A-SCS半導體測試儀系統(tǒng) 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

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