ITC57300動態(tài)參數測試系統(tǒng)主機接受測試頭，這些測試頭可在諸如絕緣柵雙晶體管（IGBT），功率MOSFET，二管和其他雙器件之類的半導體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測量（需要其他可選的偏置電源和定制個性化板）。大型機中包括分析和執(zhí)行電阻和電感開關時間，開關損耗，柵電荷，Trr / Qrr和其他瞬態(tài)測試所需的所有測試設備和軟件。

為特定類型的瞬態(tài)測試設計的測試頭與主機上的特殊測試頭接收器配對。盡管測試頭只能執(zhí)行一項特定的測試，但每個測試頭中的個性化板都會針對特定的設備，設備封裝和各種設備電路布置重新配置測試頭。

測試頭

•ITC57210-N和P溝道功率MOSFET的R開關時間，MIL-STD-750，方法3472

•ITC57220-功率MOSFET和二管的Trr / Qrr，MIL-STD-750，方法3473

•ITC57230-功率MOSFET的柵電荷，MIL-STD-750，方法3471

•ITC57240 IGBT的電感性開關時間，MIL-STD 750，方法3477

•ITC57250短路（Isc）耐受時間，MIL-STD 750，方法3479

•ITC57260-功率MOSFET的柵電阻（Rg），輸入電容（Ciss），輸出電容（Coss）和反向電容（Crss），JEDEC標準JESD24-11

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