北京金埃譜科技是北京市*，位于我國(guó)的高校云集、中科院研究院所匯聚的北京*產(chǎn)業(yè)區(qū)-中關(guān)村。公司起源和服務(wù)于中國(guó)兵器系統(tǒng)行業(yè)，依托當(dāng)?shù)厝瞬刨Y源和兵器系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)勢(shì)，致力于科學(xué)分析儀器的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售。以創(chuàng)立兵器和民用行業(yè)國(guó)有品牌為發(fā)展宗旨，通過(guò)與兵器系統(tǒng)密切合作，同時(shí)借鑒*進(jìn)技術(shù)，研發(fā)具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的自動(dòng)化及智能化檢測(cè)儀器，為我國(guó)科研單位及生產(chǎn)企業(yè)提供與產(chǎn)品接軌，高可靠性，高性價(jià)比的*科研設(shè)備。目前主要產(chǎn)品有F-Sorb X400系列比表面積及孔徑(孔隙度)分析測(cè)試儀。
 

秉承兵器行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn)、嚴(yán)要求的技術(shù)宗旨，并適應(yīng)新形勢(shì)下市場(chǎng)發(fā)展需求，倡導(dǎo)和堅(jiān)持“技術(shù)為先，服務(wù)為本”的發(fā)展理念，我們?yōu)榭蛻舨粌H僅提供高質(zhì)量的產(chǎn)品，同時(shí)更注重高效的服務(wù)。公司擁有深諳業(yè)內(nèi)需求，了解*技術(shù)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)及跨行業(yè)技術(shù)咨詢專家，為研發(fā)具有*水平產(chǎn)品提供強(qiáng)大的技術(shù)支持。目前已建立起嚴(yán)格的產(chǎn)品質(zhì)量保證和完善的售后服務(wù)體系，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)，服務(wù)更具本地特色，使F-Sorb X400系列比表面積及孔徑(孔隙度)分析測(cè)試儀產(chǎn)品品牌和公司信譽(yù)得到了客戶的高度認(rèn)可和普遍贊譽(yù)，在同行業(yè)中處于*地位。
 

北京金埃譜科技是國(guó)內(nèi)Z早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu)，測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性較好，并*獲取上海*檢測(cè)證書。同時(shí)北京金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中*一家注冊(cè)資本超百萬(wàn)的生產(chǎn)企業(yè)，讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂！
 

F-Sorb X400系列比表面儀,BET法比表面積儀,BET比表面積測(cè)試儀,氮吸附比表面積測(cè)定儀,比表面檢測(cè)儀,比表面測(cè)量?jī)x,比表面積檢測(cè)儀,比表面積測(cè)量?jī)x,比表面積分析儀,比表面測(cè)定儀,比表面測(cè)試儀,BET比表面分析儀,孔容積測(cè)定儀,孔徑分析儀,孔徑檢測(cè)儀,孔徑測(cè)量?jī)x,孔徑分布測(cè)定儀,孔隙度分析儀,孔容積分析儀,孔徑分布檢測(cè)儀,孔徑分布測(cè)量?jī)x,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率檢測(cè)儀,孔隙率測(cè)量?jī)x,孔容測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)分析儀,孔徑測(cè)定儀,孔隙度檢測(cè)儀,孔隙度測(cè)量?jī)x,平均孔徑測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)檢測(cè)儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)量?jī)x,總孔體積分析儀,孔容積測(cè)試儀,孔體積分析儀,孔體積檢測(cè)儀,孔體積測(cè)量?jī)x,平均孔徑測(cè)定儀,孔隙率分析儀,孔徑測(cè)試儀,孔徑分布測(cè)試儀,孔容檢測(cè)儀,孔容測(cè)量?jī)x,總孔體積測(cè)定儀,孔體積測(cè)試儀,平均孔徑分析儀,總孔體積檢測(cè)儀,總孔體積測(cè)量?jī)x,孔隙度測(cè)定儀,孔徑分布分析儀,平均孔徑檢測(cè)儀,平均孔徑測(cè)量?jī)x,孔結(jié)構(gòu)測(cè)定儀,總孔體積測(cè)試儀,孔隙率測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)試儀,孔容分析儀,孔體積測(cè)定儀,孔隙度測(cè)試儀,孔容測(cè)定儀等是粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑(孔隙度)分布的檢測(cè)分析儀器，由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā).是目前國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中**自動(dòng)化,智能化的產(chǎn)品,產(chǎn)品設(shè)計(jì)遵循測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和計(jì)算方法,顯著提高產(chǎn)品可靠性,測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性,大大降低測(cè)試人員工作量.可用于活性炭、二氧化硅、活性碳、分子篩、活性氧化鋁,顏填料、無(wú)機(jī)顏料、碳酸鈣、氧化鋅、氧化硅、礦物粉、陶瓷材料、氧化鋁、氧化鋯、氧化釔、氮化硅、碳化硅、炭黑、金屬氧化物、碳黑、白碳黑、白炭黑、納米碳酸鈣、電池材料（鈷酸鋰、三元素、三元素材料、聚合物、聚合物材料、聚合物電池材料、石英、堿錳材料、鋰離子材料、鋰錳材料、堿性材料、鋅錳材料、石英粉、鎂錳材料、碳性材料、鋅空材料、鋅汞材料、乙炔黑、鎳氫材料、鎳鎘材料、隔膜、鎳鈷酸鋰、氧化鈷、磷酸鐵鋰、活性物資、添加劑、導(dǎo)電劑、緩蝕劑、錳粉、電解二氧化錳、鋅材、石墨粉、氫氧化亞鎳、泡沫鎳、儲(chǔ)氫合金、改性石墨材料、正極活性物質(zhì)、負(fù)極活性物質(zhì)、鋅粉、錳酸鋰、石墨）、發(fā)光稀土粉末材料、粉體材料、粉末材料、磁性粉末材料、四氧化三鐵、鐵氧體,納米粉體材料、納米陶瓷材料、納米材料、納米金屬材料、納米銀粉、鐵粉、銅粉、鎢粉、鎳粉、鋁粉、鈷粉、超細(xì)纖維、多孔織物、復(fù)合材料、沉積物、懸浮物等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測(cè)分析，廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控。