摘要 產(chǎn)品介紹：2800G 表面粗糙度和輪廓形狀復(fù)合測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：表面粗糙度和輪廓形狀復(fù)合測(cè)量機(jī) 2800G

摘要 產(chǎn)品介紹：2000DX3 SD3 表面粗糙度和輪廓形狀綜合測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：1910DX3 SD3 表面粗糙度和輪廓形狀復(fù)合測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：2900DX3 SD3 表面粗糙度和輪廓形狀復(fù)合測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：5000DX SD 表面粗糙度和輪廓形狀綜合測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：C5 Type-C Type-S表面粗糙度測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：表面粗糙度和輪廓形狀復(fù)合測(cè)量機(jī) NEX

摘要 產(chǎn)品介紹：130A 表面粗糙度測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：小型表面粗糙度測(cè)量機(jī) 130A

摘要 產(chǎn)品介紹：東京精密表面粗糙度測(cè)量機(jī)480B

摘要 產(chǎn)品介紹：480B表面粗糙度測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：1400G-LCD PDP表面粗糙度測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：東京精密表面粗糙度測(cè)量?jī)x SURFCOM TOUCH550

摘要 產(chǎn)品介紹：東京精密粗糙度測(cè)量?jī)x1400G

摘要 產(chǎn)品介紹：1400G 表面粗糙度測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：1500DX3 SD3 表面粗糙度測(cè)量機(jī)

摘要 產(chǎn)品介紹：東京精密表面粗糙度測(cè)量機(jī) SURFCOM NEX

摘要 產(chǎn)品介紹：東京精密粗糙度測(cè)量機(jī)NEX

摘要 產(chǎn)品介紹：SURFCOM NEX001表面粗糙度測(cè)量孔 詳細(xì)信息

摘要 讓觀察對(duì)象纖毫畢現(xiàn)即使在低放大倍率下，DMC5400攝像頭也能實(shí)現(xiàn)高幀頻和高分辨率的彩色圖像

摘要 優(yōu)化光學(xué)檢查S9體視顯微鏡具有滿足各種不同需求的不同型號(hào)

摘要 體式顯微鏡為科學(xué)教室提供無(wú)線教育解決方案

摘要 徠卡倒置式顯微鏡助您加速工作流程　　徠卡倒置式顯微鏡可以為您節(jié)省時(shí)間和資金

摘要 徠卡DMC2900是一款可由USB3.0傳送數(shù)據(jù),具有三百一十萬(wàn)像素傳感器的數(shù)碼攝像頭

摘要 自動(dòng)要素判定功能（AI功能）無(wú)需點(diǎn)、直線、圓等的要素即進(jìn)行自動(dòng)判定

摘要 Elcometer129表面比較器有兩種型號(hào):Elcometer129Rubert-有噴砂型和噴丸型Elcometer129Rugotest—同一塊板上同時(shí)具備噴砂和噴丸粗糙度粗糙度以“等級(jí)”和“粗糙度平均值”來(lái)顯示，識(shí)別更方便

摘要 Elcometer127系列表面比較器有噴細(xì)沙、噴丸或噴粗砂型

摘要 表面比較器極其耐用，可用來(lái)評(píng)估噴砂或噴丸表面的粗糙度情況

摘要 Elcometer122Testex測(cè)試帶由泡沫組成，其底面不可壓縮

摘要SuperView WX 100白光干涉測(cè)頭是一款非接觸式精密光學(xué)測(cè)頭，其基于白光干涉和精密掃描研制而成，主要由光學(xué)干涉系統(tǒng)和Z向掃描系統(tǒng)組成，具有體積小、重量輕、便攜的特點(diǎn)，能夠方便地搭載在各種具備XY水平位移架構(gòu)的平臺(tái)上，在產(chǎn)線上對(duì)器件表面進(jìn)行自動(dòng)化形式的測(cè)量，直...

摘要SuperView W3白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器...

摘要 一.用途：　　2303型表面形狀測(cè)量?jī)x采用觸針式測(cè)量原理和光柵技術(shù)，對(duì)工件的形狀進(jìn)行測(cè)量，可測(cè)量工件的角度、圓弧半徑、相互位置等形位參數(shù)，為生產(chǎn)車(chē)間和計(jì)量部門(mén)提供了對(duì)零件形狀誤差進(jìn)行***精度檢測(cè)的手段

摘要 薄膜測(cè)試—確保高產(chǎn) 布魯克臺(tái)階儀-半導(dǎo)體工藝檢測(cè)在半導(dǎo)體制造中嚴(yán)密監(jiān)測(cè)沉積和蝕刻比率均勻性，薄膜應(yīng)力，能節(jié)省大量時(shí)間和金錢(qián)。薄膜的不均勻或太大的應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致地產(chǎn)及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地設(shè)置和運(yùn)行自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)試程序來(lái)檢驗(yàn)晶片薄膜的精確厚度，達(dá)到納米級(jí)別。

摘要eFoot-320Pro激光腳型三維掃描儀-3D腳型測(cè)量，可對(duì)人體腳型、鞋楦楦型進(jìn)行三維掃描,采集高精度腳型和檀型3D數(shù)據(jù),并生成60幾組個(gè)性化參數(shù)，支持上傳與下載; 足部三維掃描儀可自動(dòng)匹配鞋碼,實(shí)現(xiàn)終端選鞋；依據(jù)足部參數(shù)&個(gè)性化需求,實(shí)現(xiàn)定制。廣泛用于制鞋產(chǎn)業(yè)與醫(yī)...

摘要 產(chǎn)品名稱： Beam Analyzer 光束分析儀/多掃描刀口式光束輪廓儀 產(chǎn)品類別： 激光系列產(chǎn)品 → 激光光束分析 產(chǎn)品編號(hào)： 123013274016