輪廓儀的構(gòu)成和效驗(yàn)
2021-02-23標(biāo)簽:輪廓儀
輪廓儀的構(gòu)成電腦控制盒及控制面板控制盒控制面板大理石工作臺(tái)立柱驅(qū)動(dòng)器CD120測(cè)針12175XM8350X33mm1.硬件
輪廓儀的構(gòu)成2.軟件測(cè)量鍵按下后,測(cè)頭立即進(jìn)入測(cè)試步驟,注意測(cè)頭保護(hù)編輯、視圖、宏、元素、結(jié)果均為評(píng)定菜單操作序列操作僅在MarSurfXC20中可用功能鍵欄報(bào)告表頭格式設(shè)置輪廓、結(jié)果、報(bào)告(PDF)導(dǎo)出元素構(gòu)建及評(píng)定命令圖形預(yù)覽窗口軟件版本:MarSurfXC26.00-17SP1
輪廓儀的構(gòu)成2.1軟件-測(cè)量站-控制終止當(dāng)前操作,快捷鍵“空格”參考點(diǎn)運(yùn)行設(shè)備參數(shù)幫助測(cè)頭位置指示,黑色/藍(lán)色指測(cè)頭未接觸/接觸工件自動(dòng)頂點(diǎn)搜索(僅X向)手動(dòng)頂點(diǎn)搜索測(cè)頭Z值顯示,找頂點(diǎn)時(shí)參考此值。測(cè)頭Z向手動(dòng)移動(dòng)測(cè)頭Z向自動(dòng)接觸接觸力設(shè)置驅(qū)動(dòng)器HZ向手動(dòng)移動(dòng)移動(dòng)速度調(diào)節(jié)測(cè)頭狀態(tài)顯示自動(dòng)定位移動(dòng)(測(cè)頭X向Z向)機(jī)器每次啟動(dòng)后均要進(jìn)入?yún)⒖键c(diǎn)運(yùn)行,否則該圖標(biāo)為灰色閃爍,后續(xù)檢測(cè)無(wú)法繼續(xù)。參考點(diǎn)運(yùn)行時(shí)要注意保護(hù)測(cè)頭。
輪廓儀的構(gòu)成2.2軟件-測(cè)量站-測(cè)頭系統(tǒng)當(dāng)前測(cè)頭系統(tǒng)信息當(dāng)前測(cè)頭系統(tǒng)信息測(cè)頭校準(zhǔn)新建測(cè)頭數(shù)據(jù)更改測(cè)頭數(shù)據(jù)刪除測(cè)頭數(shù)據(jù)
輪廓儀的校驗(yàn)1.校驗(yàn)所使用的標(biāo)準(zhǔn)件(1)標(biāo)準(zhǔn)球大球直徑:22.5082mm小球直徑:4.0001mm(2)砝碼質(zhì)量:15.00g
輪廓儀的校驗(yàn)2.校驗(yàn)步驟1.雙擊桌面快捷鍵2.點(diǎn)擊GMB用戶名3.按控制面板上啟動(dòng)按鈕5.點(diǎn)擊測(cè)量站4.目視檢查:探針運(yùn)動(dòng)范圍有無(wú)障礙6.點(diǎn)擊測(cè)量系統(tǒng)7.填寫相應(yīng)信息并啟動(dòng)a.校準(zhǔn)力b.測(cè)頭彎曲c.測(cè)頭幾何形狀二、輪廓儀的校驗(yàn)2.1校驗(yàn)步驟-------校準(zhǔn)力1.點(diǎn)擊確認(rèn)2.目視確認(rèn)并點(diǎn)擊“√”,測(cè)頭進(jìn)入空擺校驗(yàn)步驟3.點(diǎn)擊OK點(diǎn)擊4.將砝碼放置在測(cè)臂上并點(diǎn)擊OK5.將砝碼拿離測(cè)臂并點(diǎn)擊OK校準(zhǔn)力完畢二、輪廓儀的校驗(yàn)2.2校驗(yàn)步驟-------校準(zhǔn)測(cè)頭彎曲1.點(diǎn)擊OK2.調(diào)整立柱,使探針靠近硬質(zhì)平面3.點(diǎn)擊自動(dòng)接觸4.調(diào)整立柱方向(上減下加)使Z值趨近0.并點(diǎn)擊“√”校準(zhǔn)彎曲完成
輪廓儀的校驗(yàn)2.3校驗(yàn)步驟-------校準(zhǔn)測(cè)頭幾何形狀1.點(diǎn)擊“向下”按鈕2.填寫校準(zhǔn)參數(shù),后確認(rèn)3調(diào)整立柱方向,使測(cè)頭在小球的正上方175M8信息35033信息4.自動(dòng)接觸5.通過(guò)立柱調(diào)整Z值,使其約在0.52<Z<0.826.微調(diào),找到Z值的最高點(diǎn),并保證0.52<Z<0.82,點(diǎn)擊“√”備注:X向?yàn)槭謩?dòng)調(diào)節(jié),Y向?yàn)槭謩?dòng)或自動(dòng)調(diào)節(jié)二、輪廓儀的校驗(yàn)2.校驗(yàn)步驟-------校準(zhǔn)測(cè)頭幾何形狀7.點(diǎn)擊“OK”按鈕8.調(diào)整立柱方向,使測(cè)頭在大球的正上方9.自動(dòng)接觸10.通過(guò)立柱調(diào)整Z值,使其在3.58<Z<3.8811.調(diào)整微調(diào)螺母,找Z值的最高點(diǎn),并保證3.58<Z<3.88點(diǎn)擊“√”校準(zhǔn)測(cè)頭幾何形狀完成
輪廓儀的測(cè)量使用1.手動(dòng)測(cè)量1.裝夾工件,調(diào)整工件角度及位置,使(1)輪廓切線角度在測(cè)尖測(cè)試范圍內(nèi):(2)掃描起始點(diǎn)在測(cè)針測(cè)量范圍內(nèi);(3)測(cè)針約在Y向最高點(diǎn)上;(4)測(cè)針Z向位置合適,保證輪廓最高/最低點(diǎn)在Z向量程內(nèi)。Z向量程:175-M8mm:±13.02mm350X33mm:±25.84mm175-M8mm350X33mm
輪廓儀的測(cè)量使用1.手動(dòng)測(cè)量2.進(jìn)入測(cè)量站,點(diǎn)擊自動(dòng)接觸使測(cè)頭接觸零件表面后,調(diào)節(jié)夾具上Y向調(diào)節(jié)旋鈕找到工件Y向最高點(diǎn)3.退出測(cè)量站,點(diǎn)擊測(cè)量按鈕進(jìn)入測(cè)量。4.測(cè)量完成后進(jìn)入元素構(gòu)建、評(píng)價(jià)界面。(1)自動(dòng)接觸(2)Y向調(diào)節(jié)(3)找最高點(diǎn)三、輪廓儀的測(cè)量使用2.自動(dòng)測(cè)量(測(cè)量助手)設(shè)置測(cè)量參數(shù)及測(cè)頭移動(dòng)速度設(shè)置報(bào)告的表頭設(shè)置測(cè)頭每次測(cè)量前移動(dòng)的坐標(biāo)。建議此處插入測(cè)量站以便手動(dòng)定位。設(shè)置測(cè)量參數(shù)設(shè)置測(cè)頭每次測(cè)量后移動(dòng)的坐標(biāo)(安全位置),測(cè)頭每次測(cè)量完成后會(huì)在輪廓最高點(diǎn)基礎(chǔ)上抬升并回撤
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SJ5800中圖粗糙度輪廓度儀器儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),一次測(cè)量掃描后,在同一個(gè)界面顯示粗糙度評(píng)價(jià)結(jié)果與輪廓分析結(jié)果。
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SuperViewW系列白光干涉三維形貌儀輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理,特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
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SJ5800大量程一體型粗糙度輪廓儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍,專業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。分辨率高達(dá)到0.1nm,系統(tǒng)殘差小于3nm。與配套軟件測(cè)量軸承滾道,輪廓和粗糙度一體測(cè)量,無(wú)需切換模塊。一次測(cè)量掃描后,在同一個(gè)界面顯示粗糙度評(píng)價(jià)結(jié)果與輪廓分析結(jié)果。
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SuperViewW高精度3D表面光學(xué)輪廓儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。
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SJ5800表面輪廓掃描檢測(cè)儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),可以對(duì)零件表面,尤其是大范圍曲面,如圓弧面和球面、異型曲面等進(jìn)行檢測(cè),是大曲面測(cè)量(軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子)領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。
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中圖儀器摩擦磨損三維形貌輪廓儀以3D非接觸方式,測(cè)量劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量。具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。
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SuperViewW系列3D顯微光學(xué)輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
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SJ5700DUAL螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x是大量程、高精度的主動(dòng)掃描式綜合輪廓測(cè)量?jī)x。它可以全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長(zhǎng)達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力,非常適合大范圍陡坡表面測(cè)量,大工件無(wú)需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整,就可實(shí)現(xiàn)輕松測(cè)量。
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SJ5800凹槽凸度曲線輪廓測(cè)量?jī)x高穩(wěn)定的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),確保了驅(qū)動(dòng)運(yùn)行過(guò)程中不產(chǎn)生任何的振動(dòng)及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運(yùn)動(dòng)精度,具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍,專業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。分辨率高達(dá)到0.1nm,系統(tǒng)殘差小于3nm。
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SuperViewW自動(dòng)精密三維光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理,特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。