摘要 通用組合水平檢測(cè)干涉儀

摘要 產(chǎn)品用途：結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)

摘要ZLMIC-550DIC工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏光觀察, DIC觀察等功能，導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測(cè)。機(jī)械移動(dòng)...

摘要 TThorlabs 掃描式法布里－珀luo干涉儀Thorlabs的掃描式法布里-珀羅(FP)干涉儀是一種光譜分析儀，非常適用于檢查連續(xù)激光器的細(xì)微光譜特性。

摘要 相移剪切電子散斑干涉儀簡(jiǎn)介：剪切電子散斑干涉術(shù)是一種測(cè)量離面位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)的激光干涉測(cè)量新技術(shù)

摘要 三維云紋干涉儀簡(jiǎn)介：三維云紋干涉儀是由云紋干涉光路和泰曼/格林干涉光路組合而成

摘要 一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀簡(jiǎn)介：電子散斑干涉術(shù)是繼全息干涉術(shù)之后發(fā)展起來(lái)的一種實(shí)驗(yàn)力學(xué)新方法

摘要一維離面位移相移電子散斑干涉儀TS-SI-1ZP型一維離面位移相移電子散斑干涉儀一維離面位移相移電子散斑干涉儀能實(shí)時(shí)觀察代表離面位移的干涉條紋，配以穩(wěn)定的三點(diǎn)彎曲梁加載實(shí)驗(yàn)裝置和圓盤受均布載荷（氣壓）或集中力實(shí)驗(yàn)裝置，使得整個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，易于調(diào)節(jié)，可以獲得很好的教學(xué)...

摘要 三維相移電子散斑干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：TS-SI-3P相移電子散斑干涉（ESPI）技術(shù)是繼光彈性和全息干涉等光測(cè)力學(xué)方法之后發(fā)展起來(lái)的一種實(shí)驗(yàn)力學(xué)新方法

摘要 Thorlabs 剪切干涉儀 25.4-50 mm光束直徑根據(jù)所用剪切板的不同，剪切干涉儀可用于直徑小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉儀產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)光束發(fā)散很敏感，因此可以用來(lái)定性地確定光是否準(zhǔn)直。

摘要 F-SLGS1040雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)調(diào)整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會(huì)分波面的干涉原理和干涉理論

摘要 F-DGS1160多光束的干涉（F-P掃描干涉儀）調(diào)整兩個(gè)反射鏡之間的相對(duì)位置，使之平行，形成F-P干涉儀

摘要 F-ZHG2010組合干涉儀組合邁克爾遜干涉儀組合馬赫-曾德爾干涉儀組合薩格奈克干涉儀比較三種干涉儀的不同，并用干涉儀觀察測(cè)量空氣壓強(qiáng)與折射率的關(guān)系

摘要 F-2020光纖干涉儀光纖端面的處理及耦合以光纖為相干光傳輸路徑，搭制馬赫-曾德爾干涉儀，并通過(guò)CCD觀察干涉條紋測(cè)量溫度變化對(duì)干涉條紋的影響

摘要 F-P掃描干涉儀一種高分辨率的激光光譜分析儀器

摘要 F-YE-ZG-11柱面波干涉演示實(shí)驗(yàn)儀觀察激光通過(guò)兩個(gè)相交的狹縫以后形成的雙曲線形的衍射圖案

摘要 F-YS-DGG-16多光束干涉演示實(shí)驗(yàn)儀觀察激光通過(guò)F-P干涉儀之后形成的多光束干涉圖樣以及激光器的頻率特性；并通過(guò)改變兩個(gè)發(fā)射鏡之間的相對(duì)位置，觀察干涉圖樣的變化

摘要 F-YS--30光纖干涉演示實(shí)驗(yàn)儀用光纖作為馬赫-曾特干涉儀的兩背，用CCD攝像頭接收干涉條紋，通過(guò)監(jiān)視器觀察干涉條紋，并通過(guò)溫控儀改變一段光纖的溫度，觀察干涉條紋的變化

摘要 F-YS-HPG-21會(huì)聚偏振光干涉演示實(shí)驗(yàn)儀觀察會(huì)聚偏振光經(jīng)過(guò)LiNbO3晶體后形成的干涉花樣，通過(guò)改變加在LiNbO3晶體上的電壓，觀察干涉花樣的變化

摘要 F-YS-SF-02雙縫干涉演示實(shí)驗(yàn)儀觀察激光通過(guò)雙縫以后的干涉圖樣

摘要 產(chǎn)品名稱：FSM413紅外干涉測(cè)量設(shè)備產(chǎn)品型號(hào)：FSM413EC,FSM413MOT

摘要 產(chǎn)品特點(diǎn)：1、可實(shí)現(xiàn)三維平移、一維旋轉(zhuǎn)、一維傾斜調(diào)整；2、水平平移（X、Y軸）和豎直升降（Z軸）：精密線性滑塊導(dǎo)軌導(dǎo)向，滾珠螺桿驅(qū)動(dòng)，手動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)作為精調(diào)手輪，分辨率小于1μm；3、旋轉(zhuǎn)傾斜部分臺(tái)面大，精研絲杠調(diào)整，轉(zhuǎn)軸無(wú)間隙。

摘要 DNC-7P動(dòng)態(tài)干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：DNC-7P結(jié)構(gòu)緊湊，重量輕35us數(shù)據(jù)采集時(shí)間2448*2048 Pixel,12bit優(yōu)秀的數(shù)據(jù)分析和可視化軟件有振動(dòng)和氣流時(shí)進(jìn)行不敏感的動(dòng)態(tài)測(cè)量采用偏振原理同時(shí)采集四幅相移圖，因此對(duì)震動(dòng)影響不敏感

摘要 D50中紅外干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：D50紅外光學(xué)元件的表面面型測(cè)量

摘要 INF25-LP蓋板干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF25-LP主要用于手機(jī)蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測(cè)試！

摘要 德國(guó)BMT WLIRing 干涉儀

摘要 一、概述本儀器應(yīng)用光干涉原理、根據(jù)中華人民共和國(guó)煤炭行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)MT28-2005《CJG-10型煤礦用光干涉式甲烷測(cè)定器》的標(biāo)準(zhǔn)制造的

摘要 一、概述本儀器應(yīng)用光干涉原理、根據(jù)中華人民共和國(guó)煤炭行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)MT28-2005《光干涉式甲烷測(cè)定器》及Q/ZADZ03-2005《CJG-100型煤礦用光干涉式甲烷測(cè)定器》的標(biāo)準(zhǔn)制造的

摘要一、產(chǎn)品描述PO系列機(jī)床測(cè)頭采用的3點(diǎn)觸發(fā)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，在測(cè)頭的內(nèi)部有一個(gè)觸發(fā)機(jī)構(gòu)，當(dāng)測(cè)針受外力作用產(chǎn)生徑向或軸向移動(dòng)時(shí)，觸發(fā)機(jī)構(gòu)觸發(fā)，測(cè)頭內(nèi)部的電路向接收器發(fā)出觸發(fā)信號(hào)，接收器將信號(hào)傳送給數(shù)控機(jī)床，獲得機(jī)床各軸位置坐標(biāo)，再根據(jù)不同測(cè)量點(diǎn)的數(shù)據(jù)，計(jì)算出需要測(cè)量結(jié)果。測(cè)頭的...

摘要雙向精密自準(zhǔn)直儀，采用光學(xué)自準(zhǔn)直原理和二維測(cè)量結(jié)構(gòu)，能對(duì)機(jī)床，儀器精密導(dǎo)軌和精密平板的運(yùn)動(dòng)直線度和平直度，做水平、垂直二維方向的角、線性值精密測(cè)量。本儀器具有原理合理，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，體積小，精度高，使用方便，配以一定的附件后，能擴(kuò)大使用范圍的特點(diǎn)。工作室應(yīng)清潔，無(wú)振動(dòng)，電...

摘要采用光學(xué)自準(zhǔn)直原理、二維測(cè)量結(jié)構(gòu)和精密電子技術(shù)，能對(duì)機(jī)床、儀器精密導(dǎo)軌和精密平板的運(yùn)動(dòng)直線度和平直度做水平、垂直二維方向的角、線性值的精密測(cè)試，工作效率優(yōu)于目前單向同類儀器以及雙向普通儀器。它依靠現(xiàn)代電子技術(shù)大大節(jié)省了計(jì)算時(shí)間，在測(cè)試時(shí)只需將數(shù)據(jù)直接采集，通過(guò)儀器自動(dòng)...

摘要 移相干涉條紋分析軟件，實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測(cè)量。

摘要 Ka波段微波干涉儀（常壓等離子體診斷）關(guān)鍵詞：AtmosphericPlasma,等離子體診斷、常壓等離子體、介電質(zhì)、放電應(yīng)用：等離子體診斷

摘要簡(jiǎn)單介紹： 干涉顯微鏡6JA是用來(lái)測(cè)量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來(lái)測(cè)量零件表面刻線，鍍層等深度。干涉顯微鏡6JA配以各種附件，還能測(cè)量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面，同時(shí)...

摘要 ZC1633型雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)儀(光干涉實(shí)驗(yàn)儀)　　主要實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：　　1、觀察光的干涉現(xiàn)象，掌握一種分波前光路實(shí)驗(yàn)雙光束干涉的方法;　　2、用雙棱鏡干涉測(cè)量光波波長(zhǎng);　　3、學(xué)會(huì)雙棱鏡干涉光路的共軸調(diào)節(jié)方法

摘要 最近，德國(guó)LEICA推出了新一代薄膜測(cè)厚儀DRM1000以應(yīng)對(duì)微電子，半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的新高潮

摘要 儀器簡(jiǎn)介：電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù),因其通用性強(qiáng)、測(cè)量精度高、頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)，電子散斑干涉無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試

摘要 儀器簡(jiǎn)介：光的干涉和衍射是重要的光學(xué)現(xiàn)象之一，本裝置將干涉實(shí)驗(yàn)和衍射實(shí)驗(yàn)集成為一個(gè)實(shí)驗(yàn)裝置，既可以進(jìn)行光的干涉實(shí)驗(yàn)比如雙棱鏡干涉，楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)等；又可以進(jìn)行光的衍射實(shí)驗(yàn)比如夫瑯禾費(fèi)単縫衍射等

摘要儀器簡(jiǎn)介：LYS-4A根據(jù)傳統(tǒng)的光的干涉衍射實(shí)驗(yàn)設(shè)備的不足,研制出了新的光的干涉衍射實(shí)驗(yàn)儀.按照實(shí)驗(yàn)需要組合成相應(yīng)儀器.該實(shí)驗(yàn)儀既可以用于光學(xué)演示實(shí)驗(yàn),也可以作為光學(xué)專用的實(shí)驗(yàn)儀器干涉衍射實(shí)驗(yàn)裝置將干涉實(shí)驗(yàn)和衍射實(shí)驗(yàn)集成為一個(gè)實(shí)驗(yàn)裝置，既可以進(jìn)行光的干涉實(shí)驗(yàn)又可以進(jìn)行...

摘要 儀器簡(jiǎn)介：本款精密干涉儀可開展邁克耳遜干涉，法布里-珀涉，棱鏡干涉和透鏡干涉實(shí)驗(yàn)

摘要 儀器簡(jiǎn)介：采用平臺(tái)式設(shè)計(jì)，便于在光路中加入被研究物質(zhì)

摘要 儀器簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)設(shè)備可以熟悉邁克爾遜干涉儀、馬赫--曾德爾干涉儀、薩格奈特干涉儀的知識(shí)點(diǎn)；通過(guò)實(shí)驗(yàn)可以理解實(shí)驗(yàn)原理，掌握干涉測(cè)量技術(shù)，通過(guò)此實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)進(jìn)行線性膨脹系數(shù)測(cè)定實(shí)驗(yàn)和壓電陶瓷的特性研究，此涉及這些知識(shí)點(diǎn)融合在一起，便于學(xué)習(xí)和通過(guò)實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象來(lái)橫向比較實(shí)驗(yàn)原理

摘要產(chǎn)品介紹：北京波威提供的MINT是一個(gè)延遲線干涉儀(DLI)可以對(duì)輸入光信號(hào)和其延遲了1bit的信號(hào)進(jìn)行干涉。MINT用于D(Q)PSK解調(diào)，在很多應(yīng)用中得以使用 。MINT可調(diào)，能夠精確匹配載波頻率?？梢垣@得兩種相位調(diào)節(jié)選項(xiàng):一種是超快選項(xiàng)(U),具有非常低的調(diào)節(jié)時(shí)...

摘要產(chǎn)品介紹：北京波威提供的OPTIPHASE光纖干涉儀用于精密測(cè)試和測(cè)量?jī)x器以及光纖傳感系統(tǒng)。產(chǎn)品由OPTIPHASE研發(fā)的PZ1低剖面光纖拉伸器驅(qū)動(dòng)，通過(guò)一個(gè)前面板BNC連接器進(jìn)行增強(qiáng)調(diào)制。邁克爾遜干涉儀和馬赫-曾德爾干涉儀的波長(zhǎng)從1064納米到1550納米不等。每個(gè)...

摘要 LeicaDCM8白光共焦干涉顯微鏡