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銅厚測(cè)試儀探頭供應(yīng)測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化，通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。

銅厚測(cè)試儀探頭廠家價(jià)格測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化，通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。

測(cè)厚儀附件-X射線管廠家供應(yīng)：XRF射線管，X射線管，XRF光管，X光管，牛津XRF射線管，Oxford　X射線管，島津XRF射線管，X-ray　Tube，ED...

ETP 孔銅探頭廠家批發(fā)適用于CMI500、CMI700銅厚測(cè)試儀上，利用電渦流測(cè)試技術(shù)測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化，通過(guò)計(jì)算此...

CMI900、X-Strata920AB線 鍍層測(cè)厚儀儀器線用于測(cè)試主機(jī)和電腦連線，深圳市鼎極天電子有限公司主營(yíng)產(chǎn)品：膜厚儀,鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,X射線測(cè)厚...

CMI900/X-STRAT920X 射線管廠家報(bào)價(jià)是工作在高電壓下的真空二極管。包含有兩個(gè)電極 ：一個(gè)是用于發(fā)射電子的燈絲，作為陰極，另一個(gè)是用于接受電子轟擊...

供應(yīng)英國(guó)Oxford牛津SRP-4 面銅探頭廠家報(bào)價(jià)包含SRP-4探針組件和連線，臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760適用。牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭，綜合運(yùn)用...

臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563SRP-4 面銅探針*是電測(cè)試的接觸媒介，為精密型電子五金元器件。SRP-4探針，臺(tái)式測(cè)厚儀CMI760/CMI563，也就...

SRP-4牛津面銅測(cè)量探頭廠家報(bào)價(jià)配套于CMI760和CMI563；微電阻原理；用于精確測(cè)量表面鍍銅厚度。牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭，綜合運(yùn)用微電...

深圳鼎極天電子供應(yīng)牛津光管測(cè)厚儀用X射線管利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。...

*的牛津儀器手持式孔銅測(cè)厚儀CMI500由500SERIES主機(jī)、ETP孔銅探頭、ETP標(biāo)準(zhǔn)片組成，應(yīng)用于PCB亦稱CMI511。儀器擁有*的統(tǒng)計(jì)報(bào)告，可隨時(shí)查...

牛津進(jìn)口孔銅測(cè)厚儀CMI500用于PCB孔壁銅厚測(cè)量，即時(shí)顯示測(cè)量數(shù)據(jù)，無(wú)損測(cè)量，有效避免切片時(shí)對(duì)PCB產(chǎn)品的損傷，減少切片測(cè)量時(shí)間，節(jié)約工時(shí)和成本，良好地控制...

現(xiàn)貨供應(yīng)牛津儀器CMI系列手持式孔銅測(cè)厚儀為手持式的電池供電的測(cè)厚儀，帶溫度補(bǔ)償功能，能夠用于線路板浸飾工序前、后，線路板從電鍍槽中提起后立即可以測(cè)量，測(cè)量不受...

牛津CMI511/CMI760ETP 孔銅探頭廠家批發(fā)適用于CMI500、CMI700銅厚測(cè)試儀上，利用電渦流測(cè)試技術(shù)測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬...

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儀器附件X射線管5000系列為側(cè)窗口X光管。廣泛應(yīng)用于許多工業(yè)領(lǐng)域，5000系列的電子槍封裝于鉛內(nèi)襯不銹鋼管中，并可以有選擇性地配有安裝法蘭。

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便攜式測(cè)厚儀CMI165SRP-T1 面銅探頭供應(yīng)商綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù)，使其成為世界上推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測(cè)厚儀的制造商。

X-Strata920、CMI900適用的各種厚度規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，鍍層標(biāo)準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)...