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半導體晶圓wafer厚度測量設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000半導體晶圓wafer厚度測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓wafer測量設(shè)備晶圓厚度測量設(shè)備半導體測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測設(shè)備

2025/3/18 10:32:5875
無圖晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)非接觸厚度、三維維納形貌一體測量。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量系統(tǒng)翹曲度測量儀

2025/3/10 15:50:32436
晶圓厚度翹曲度量測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度量測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量儀晶圓翹曲度測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓量測系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備

2025/3/10 15:02:52647
晶圓幾何參數(shù)測量設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓幾何參數(shù)測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量設(shè)備晶圓幾何測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備晶圓檢測設(shè)備

2025/3/10 14:33:55474
晶圓表面形貌高效測量分析系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓表面形貌高效測量分析系統(tǒng)采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備半導體晶圓檢測

2025/3/10 14:01:29528
晶圓硅片厚度測量儀參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓硅片厚度測量儀采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，通過非接觸測量，在有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷同時實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量儀硅片厚度測量儀測厚儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備

2025/3/10 13:32:12619
晶圓硅片表面3D量測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓硅片表面3D量測系統(tǒng)采用光學白光干涉技術(shù)、精密 Z 向掃描模塊和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通過非接觸測量，將...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)硅片量測系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2025/3/10 12:39:42604
晶圓制程幾何尺寸量測設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓制程幾何尺寸量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備半導體晶圓測量晶圓測量設(shè)備

2025/3/10 12:04:43719
半導體晶圓幾何形貌量測設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導體晶圓幾何形貌量測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何量測設(shè)備晶圓形貌量測設(shè)備半導體晶圓量測無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2025/3/10 11:12:12767
晶圓表面粗糙度測量儀器參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面粗糙度測量儀器兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓粗糙度測量儀晶圓表面測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量儀器半導體晶圓測量儀

2025/3/10 10:37:30819
半導體晶圓量測設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000半導體晶圓量測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導體量測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備

2025/3/10 10:12:23890
晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000系列
WD4000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何測量機晶圓形貌測量機無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓形貌檢測機

2025/3/10 9:49:54903
無圖晶圓厚度翹曲度測量設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓厚度翹曲度測量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它可實現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測設(shè)備晶圓厚度測量設(shè)備晶圓翹曲度測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備

2025/3/10 9:09:04868
晶圓厚度翹曲度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓翹曲度測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)

2025/3/10 8:34:04654
晶圓多維度特征檢測設(shè)備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓多維度特征檢測設(shè)備系統(tǒng)自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?？蓪崿F(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何檢測設(shè)備晶圓量測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓幾何形貌檢測設(shè)備

2025/3/10 8:04:28706
半導體晶圓厚度高精度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000系列半導體晶圓厚度高精度測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/10 7:31:27759
晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、T...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度量測系統(tǒng)晶圓粗糙度量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導體晶圓檢測機

2025/3/9 20:59:24752
半導體晶圓粗糙度翹曲度檢測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000半導體晶圓粗糙度翹曲度檢測設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現(xiàn)Wafer厚度、翹...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設(shè)備半導體晶圓檢測晶圓粗糙度檢測設(shè)備晶圓翹曲度檢測設(shè)備晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 20:15:36759
國產(chǎn)半導體晶圓表面形貌測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000國產(chǎn)半導體晶圓表面形貌測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2025/3/9 19:29:44783
晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度檢測設(shè)備晶圓翹曲度檢測設(shè)備晶圓粗糙度檢測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 18:46:24870
半導體晶圓Warp翹曲度量測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000半導體晶圓Warp翹曲度量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓量測設(shè)備晶圓翹曲度量測設(shè)備晶圓Warp量測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)

2025/3/9 18:25:09761
晶圓幾何形貌檢測機參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌檢測機可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動測量...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓檢測晶圓檢測機晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量機

2025/3/9 17:53:55863
晶圓厚度Warp檢測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000系列
WD4000晶圓厚度Warp檢測設(shè)備自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓 Thickness、TT...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓檢測設(shè)備晶圓厚度檢測設(shè)備晶圓Warp檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備

2025/3/9 17:15:18915
WD4000無圖晶圓形貌檢測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000系列
WD4000無圖晶圓形貌檢測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確?？蓪崿F(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓檢測晶圓形貌檢測設(shè)備廠家晶圓檢測儀晶圓外觀檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 16:42:48555

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深圳市中圖儀器股份有限公司

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