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半導(dǎo)體晶圓wafer厚度測(cè)量設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓wafer厚度測(cè)量設(shè)備通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
晶圓wafer測(cè)量設(shè)備晶圓厚度測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)設(shè)備
2025/3/18 10:32:58144
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無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)非接觸厚度、三維維納形貌一體測(cè)量。它通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW...
晶圓量測(cè)系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)翹曲度測(cè)量儀
2025/3/10 15:50:32471
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晶圓厚度翹曲度量測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度量測(cè)系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防...
晶圓厚度測(cè)量儀晶圓翹曲度測(cè)量儀無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備
2025/3/10 15:02:52712
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晶圓幾何參數(shù)測(cè)量設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓幾何參數(shù)測(cè)量設(shè)備通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止...
晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓幾何測(cè)量設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備
2025/3/10 14:33:55501
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晶圓表面形貌高效測(cè)量分析系統(tǒng)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓表面形貌高效測(cè)量分析系統(tǒng)采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)
2025/3/10 14:01:29568
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晶圓硅片厚度測(cè)量儀
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓硅片厚度測(cè)量儀采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，通過非接觸測(cè)量，在有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷同時(shí)實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、...
晶圓厚度測(cè)量儀硅片厚度測(cè)量儀測(cè)厚儀無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備
2025/3/10 13:32:12670
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晶圓硅片表面3D量測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓硅片表面3D量測(cè)系統(tǒng)采用光學(xué)白光干涉技術(shù)、精密 Z 向掃描模塊和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通過非接觸測(cè)量，將...
晶圓量測(cè)系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)硅片量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
2025/3/10 12:39:42646
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晶圓制程幾何尺寸量測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓制程幾何尺寸量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效...
無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測(cè)量晶圓測(cè)量設(shè)備
2025/3/10 12:04:43755
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半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建...
晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
2025/3/10 11:12:12796
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晶圓表面粗糙度測(cè)量儀器
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面粗糙度測(cè)量儀器兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙...
晶圓粗糙度測(cè)量儀晶圓表面測(cè)量儀無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量儀器半導(dǎo)體晶圓測(cè)量儀
2025/3/10 10:37:30885
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半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多...
無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體量測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備
2025/3/10 10:12:23917
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晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000系列
WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、...
型號(hào)： WD4000系列
品牌：中圖儀器所在地：深圳市
對(duì)比
晶圓幾何測(cè)量機(jī)晶圓形貌測(cè)量機(jī)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌檢測(cè)機(jī)
2025/3/10 9:49:54970
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無圖晶圓厚度翹曲度測(cè)量設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000無圖晶圓厚度翹曲度測(cè)量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰...
無圖晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓厚度測(cè)量設(shè)備晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
2025/3/10 9:09:04887
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晶圓厚度翹曲度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度測(cè)量系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃...
晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)晶圓翹曲度測(cè)量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)
2025/3/10 8:34:04669
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晶圓多維度特征檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓多維度特征檢測(cè)設(shè)備系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)...
晶圓檢測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何檢測(cè)設(shè)備晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓幾何形貌檢測(cè)設(shè)備
2025/3/10 8:04:28720
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半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià)： ￥3000000
參考價(jià)： 3000000
型號(hào)：WD4000
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
2025/3/10 7:31:27777
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晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、T...
晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)晶圓粗糙度量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)機(jī)
2025/3/9 20:59:24765
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半導(dǎo)體晶圓粗糙度翹曲度檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓粗糙度翹曲度檢測(cè)設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹...
晶圓檢測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓粗糙度檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
2025/3/9 20:15:36782
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國產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000
WD4000國產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙...
半導(dǎo)體晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
2025/3/9 19:29:44795
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晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測(cè)設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
晶圓厚度檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓粗糙度檢測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
2025/3/9 18:46:24886
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半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度量測(cè)設(shè)備晶圓Warp量測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)
2025/3/9 18:25:09774
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晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī)
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī)可測(cè)各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動(dòng)測(cè)量...
半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓檢測(cè)機(jī)晶圓檢測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌測(cè)量機(jī)
2025/3/9 17:53:55878
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晶圓厚度Warp檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000系列
WD4000晶圓厚度Warp檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓 Thickness、TT...
型號(hào)： WD4000系列
品牌：中圖儀器所在地：深圳市
對(duì)比
半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓厚度檢測(cè)設(shè)備晶圓Warp檢測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備
2025/3/9 17:15:18931
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WD4000無圖晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備
參考價(jià)： 面議
參考價(jià)： 面議
型號(hào)：WD4000系列
WD4000無圖晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石...
型號(hào)： WD4000系列
品牌：中圖儀器所在地：深圳市
對(duì)比
半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備廠家晶圓檢測(cè)儀晶圓外觀檢測(cè)設(shè)備無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
2025/3/9 16:42:48580
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