目錄:津工儀器科技（蘇州）有限公司>>物理光譜分析儀器>>鍍層測(cè)厚分析儀>> GOLDSCOPE系列FISCHER臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀X射線熒光分析儀
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更新時(shí)間：2023-05-16 15:49:00瀏覽次數(shù)：796評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
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FISCHER臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀X射線熒光分析儀 特點(diǎn)
緊湊且耐用的臺(tái)式儀器，采用X射線熒光法進(jìn)行無損的材料分析
硬件和軟件都是針對(duì)黃金和貴金屬分析進(jìn)行優(yōu)化的
樣品放置簡(jiǎn)便，采用了寬敞的測(cè)量艙和自下往上的測(cè)量方向
符合標(biāo)準(zhǔn)EN 61010, DIN ISO 3497 和ASTM B 568
有4個(gè)型號(hào)適合于所有測(cè)量應(yīng)用：GOLDSCOPE SD 510, GOLDSCOPE SD 515, GOLDSCOPE SD 520, GOLDSCOPE SD 550
510/515 型號(hào)配有硅PIN探測(cè)器
520/550 型號(hào)配有硅漂移探測(cè)器，可在測(cè)量相近元素時(shí)提供更高的分辨率
FISCHER WinFTM® 軟件中已配有分析貴金屬的測(cè)量程式
FISCHER臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀X射線熒光分析儀 應(yīng)用
在測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中無損分析珠寶、錢幣及貴金屬
黃金的購(gòu)買和銷售
貴金屬分析，牙科研合金材料
認(rèn)證：精煉廠、金屬貨幣檢驗(yàn)室、金屬品質(zhì)證明
銀器或黃金合金上的銠鍍層厚度測(cè)量
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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