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庫侖法測厚分析儀可以用于丈量幾乎一切基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。丈量時只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保丈量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠，儀器運(yùn)用煩瑣。丈量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需求專業(yè)學(xué)問。庫侖法又是能夠丈量復(fù)合鍍層、多層鍍層的方法。例如丈量在鐵上依次鍍上的銅、鑷、鉻等。保證一切丈量和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)安全可靠，可打印數(shù)據(jù)和電壓特征曲線。

庫侖法測厚分析儀 特性：

使用準(zhǔn)確性高的電解退鍍技術(shù)（庫侖法），精確地測量多鍍層的厚度

圖形顯示的交互方式，易于操作

適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度

提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求

應(yīng)用：

金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層

單層或多層的鍍層厚度測量

特別適用于通過 STEP 測試進(jìn)行多層鎳測量

適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量