OUMDL- III型智能近紅外涂層定量監(jiān)測系統(tǒng)

近紅外反射式涂層定量測量儀是一種非接觸式在線連續(xù)測量基片上涂層定量的儀器。該儀器采用反射式測量方式，近紅外測量技術(shù)測量出基片上涂層材料的定量值，傳感器發(fā)射出被涂層材料吸收 近紅外光信號和不被涂層材料吸收的近紅外參比光信號，這兩種光信號照射到涂層材料上，與涂層材料作用后，再被傳感器所接收，經(jīng)數(shù)據(jù)處理顯示出涂層定量的測量值。

一、儀器主要特點：

   1、無放射性污染，不需要到環(huán)保部門備案。

   2、多光束測量技術(shù)，提高了儀器測量的準確性。

   3、儀器采用特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計及信號處理方式，保證儀器能*穩(wěn)定的工作。

   4、儀器配有標準的輸出接口。

二、產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)

 1）、測量范圍：0.1~30g/m²

2)、測量精度：Q≤±0.1g/ m²

3）、響應(yīng)時間：τ≤20ms

三、應(yīng)用范圍

對于基片為紙底材：

膠粘涂層：水性、油性、熱熔膠涂層

擠壓塑料涂層

朔料乳劑涂層

臘涂層。

對于基片為薄膜底材：

水性粘膠涂層

水性乳液涂層

對于基片為金屬底材：

膠粘涂層：水性、油性、熱熔膠涂層

塑料涂層，

臘涂層。