鍍層測(cè)厚儀X-Strata920 、 CMI900 波譜校正片
鍍層測(cè)厚儀 X-Strata920系列
鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列,屬于X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車(chē)零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測(cè)量、材料分析;是各類(lèi)電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測(cè)量的理想檢測(cè)工具。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列具有高性價(jià)價(jià)比,有著非破壞、非接觸、多合金測(cè)量、測(cè)量元素范圍廣、測(cè)量精準(zhǔn)、測(cè)量時(shí)間短等特點(diǎn);具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性,能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,節(jié)約電鍍成本。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata920工作特點(diǎn):
- 測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好,測(cè)量結(jié)果精確至μin
- 快速無(wú)損測(cè)量,測(cè)量時(shí)間短,10秒內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果
- 可定性、半定量和定量分析
- 進(jìn)行貴金屬檢測(cè),如Au karat評(píng)價(jià)
- 材料鑒別和分類(lèi)檢測(cè),材料和合金元素分析,元素光譜定性分析
- 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
- 結(jié)果輸出:直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件;報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等
- 測(cè)量位置預(yù)覽功能;高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍
- 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能;單擊鼠標(biāo),Z軸自動(dòng)掃描,鐳射聚焦