CMI700的面銅標(biāo)準(zhǔn)片
孔、面銅測厚儀 CMI700系列
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和*的統(tǒng)計功能,統(tǒng)計功能用于數(shù)據(jù)整理分析。
型號 | CMI760 | CMI760E | 備注 |
名稱 | 臺式面銅測厚儀 | 臺式孔、面銅測厚儀 |
|
標(biāo)配 |
|
| SRP-4探針又稱水晶頭 |
選配 |
|
|
700 SERIES主機參數(shù):
- 存 儲 量:8000字節(jié),非易失性
- 尺 寸:長×寬×高292.1×270×140mm
- 重 量:2.79Kg
- 電 源:AC220V
- 單位轉(zhuǎn)換:通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
- 單 位:可選mils 、μm、μin、mm、in或%為顯示單位
- 接 口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機或計算機
- 顯 示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏,480(H)×32(V)象素
- 統(tǒng)計顯示:測量個數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,平均值,zui大值,zui小值
- 統(tǒng)計報告:需配置串行打印機或PC電腦下載,存儲位置,測量個數(shù),銅箔類型,線形銅線寬,測量日期/時間,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,方差百分比,準(zhǔn)確度,zui高值,zui低值,值域,CPK 值,單個讀數(shù),時間戳,直方圖
- 圖 表:直方圖,趨勢圖,X-R 圖