概述
SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計(jì),使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。
。光學(xué)橢偏測量解決方案
。緊湊集成化設(shè)計(jì),用戶操作體驗(yàn)
。一鍵快速測量分析,人機(jī)交互設(shè)計(jì),使用便捷
。豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力
產(chǎn)品特點(diǎn)
采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm);
高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、PCRSA配置,實(shí)現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集;
數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料;
產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等快速表征分析。
建議配件
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溫控臺 | 真空泵 | 透射吸附組件 |