本公司5月27日11時28分報道:ITC55100 半導體測試儀;(/c96719/products/d.html)
產(chǎn)品描述
ITC55100C 型號是新一代的行業(yè)標準系列 ITC55100 測試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個非常強大的微控制器設(shè)計的,它的時序分辨率為40ns,比代型號快20倍。其對峰值和零電流的響應(yīng)時間提高了十倍。結(jié)合這一功能,可提高充電和雪崩時間以及報告的峰值排水電流的準確性。
ITC55100C 型號具有雙柵驅(qū)動器作為標準功能。用戶可以設(shè)置高達 30V 的總柵驅(qū)動器,并可以選擇 30V 中有多少為正,有多少是負的。此功能可確保某些設(shè)備在雪崩期間保持狀態(tài)。
ITC55100C 執(zhí)行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測試。方法 3470 通過強調(diào) P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測試它們的能力。這是通過驅(qū)動未夾緊的電感負載的設(shè)備實現(xiàn)的。
•單/雙設(shè)備測試
• N 通道,P 通道,混合
• 所有固態(tài)開關(guān) • 無繼電器
• 40ns 的時序分辨率
• 電流范圍:0.1A 至 200A,0.1A 步長
• 阿瓦蘭奇電壓至 2500V
• 雙柵驅(qū)動,帶 30V 回轉(zhuǎn)
• 新的高效開爾文電路
• 傳統(tǒng)的 UIL 模式(通過 GPIB)
• 觸摸屏程序輸入/控制
• 波形捕獲/顯示
• 內(nèi)部測試程序存儲(20 個文件)
• 高速電感充電,縮短測試時間
• 可編程泄漏測試電壓
• 阿瓦蘭切/后泄漏測試
• 阿瓦蘭奇坍塌測試
• 多功能測試處理程序控制
• 多達 15 個硬件排序箱
• 提高電壓/電流精度
• 通過閃存下載進行軟件更新
• 參數(shù)輸入的密碼控制
• 使用所有 ITC 電感負載箱運行
• 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
• 簡單、完整的用戶校準
• 內(nèi)置自檢
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