簡要概述：
Ø JY-3晶體管測試儀，常溫測試，高溫?zé)釡y(不需要外加烘箱)，熱敏參數(shù)的快速篩選取代直流滿功率老煉三大功能，并可任意選用及組合使用。熱敏參數(shù)的快速篩選所施加的超穩(wěn)態(tài)額定功率，模擬了被試管實際使用時可能出現(xiàn)的浪涌電壓、電流等應(yīng)力，考核了被試管承受沖擊的能力。該快速篩選方法不僅能替代直流滿功率老煉，快速剔除有潛在缺陷的器件，而且更加科學(xué)合理，并已列為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ／T10415—93及標(biāo)GJB
主要功能：
Ø 可取代直流滿功率老煉，每只器件整個老煉篩選過程（含測試）只需5秒左右。
Ø 能測試篩選PNP、NPN大、中、小功率三極管。中文菜單式界面，操作簡便。
Ø 能一次性自動測試、篩選VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V（BR）CEO、V（BRCBO、V（BR）EBO、VCES、VBES的常溫、高溫值及常溫、高溫值變化量或變化率。并能任意選測全部或部分參數(shù)；若只選測常溫參數(shù)，每只器件只需1秒多。hFE1、hFE2 可以自動分10檔。
Ø 可設(shè)定器件型號、測試條件及判據(jù)，并保存在系統(tǒng)中，通過瀏覽方式修改、調(diào)用。
Ø 測試結(jié)果在大屏幕液晶顯示器（122×
Ø 每項參數(shù)的測試結(jié)果通過統(tǒng)計可獲得*大值、*小值、平均值。
Ø 器件型號、測試時間、測試條件、失效判據(jù)、檢測結(jié)果及器件編號，可通過打印機(jī)打印輸出，或通過電腦串行口保存在電腦中。超標(biāo)器件自動標(biāo)識。
Ø 測試時只需選擇器件型號即可進(jìn)入連續(xù)檢測，測試口有否被測器件自動識別。
技術(shù)參數(shù)：
| 參數(shù)名稱 | 測試范圍 | 測試條件 |
| VBE、VBC | 0.1V～1V | 1mA～ |
| hFE1、hFE2 | 5～10000倍 | VCE：1V～25V，IC：1mA～ |
| ICEO、ICBO 、IEBO | 0.1uA～10mA | 10V～1000V(VEB：1V～100V) |
| V(BR)CEO、V(BR)CBO | 10V～1000V | 50uA～10mA |
| V(BR)EBO | 5V～100V | 50uA～10mA |
| VCES、VBES | 0.1V～3V | IC：10mA～ |
注：加溫PCM范圍：VCE：5V～25V IC：
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