高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率 「簡(jiǎn)單?易懂的操作」
從軟件到硬件凝結(jié)了技術(shù),鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎(chǔ)上,又新增了簡(jiǎn)單·易懂的操作性能,將電子探針功能發(fā)揮至。既可滿足初學(xué)者簡(jiǎn)易操作的需求,又能適合專家級(jí)的科研分析。
完美設(shè)計(jì)的X射線分光器可以實(shí)現(xiàn)高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能,52.5°高取出角更勝*
圖為小孔穴中異物的分析實(shí)例。左下圖為鐵(Fe)、右下圖為鈦(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,對(duì)表面凹凸明顯的樣品也能進(jìn)行高精度分析。
從SEM觀察到開始分析,簡(jiǎn)便易行,大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時(shí)顯示高靈敏度的光學(xué)圖像和SEM圖像
在同一個(gè)顯示器上觀察光學(xué)圖像和SEM圖像。
SEM圖像和光學(xué)圖像在同一顯示器上,減少視線的移動(dòng)。
通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察。
束流變換更加簡(jiǎn)單·快速·高精度,且保持聚焦。
※外觀及規(guī)格的變動(dòng),恕不另行通知。