系統(tǒng)型號(hào)WYPLSpec系列光致發(fā)光光譜測(cè)試系統(tǒng)
WYPLSpec I 常溫掃描型
WYPLSpec II 低溫掃描型
WYPLSpec M Mini 攝譜型
本系統(tǒng)可以測(cè)試半導(dǎo)體材料或其他發(fā)光特性材料在激光激發(fā)下產(chǎn)生的熒光光譜。通常情況下采用紫外或進(jìn)紫外激光激發(fā)半導(dǎo)體材料(如GaN、Zno、CdTe 等)產(chǎn)生熒光;或用可見(jiàn)、紅外激光器激發(fā)稀土摻雜的玻璃或晶體材料產(chǎn)生的熒光,通過(guò)對(duì)其熒光光譜的測(cè)量,分析材料能帶結(jié)果等特征。
技術(shù)指標(biāo):WYPLSpec系列光致發(fā)光光譜測(cè)試系統(tǒng)
● 光譜范圍:200-2500nm(可根據(jù)實(shí)際需要選擇)
● 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±0.2nm
● 光譜分辨率:±0.1nm
● 光譜帶寬:0.2-10nm 可調(diào)
● 光源波長(zhǎng):224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1964nm 等可選
● 可升級(jí)做透射、反射光譜測(cè)試
2016年1月21日,上海交通大學(xué)激光制造實(shí)驗(yàn)室迎十周年慶暨中德激光制造技術(shù)交流會(huì)在上海交通大學(xué)閔行校區(qū)舉行。中國(guó)*部長(zhǎng)萬(wàn)鋼和德國(guó)教研部部長(zhǎng)Johanna Wanka女士出席并致辭。**司副司長(zhǎng)陳家昌,上海市科委主任壽子琪,上海交通大學(xué)校長(zhǎng)張杰、常務(wù)副校長(zhǎng)林忠欽等出席會(huì)議。上海交通大學(xué)副校長(zhǎng)黃震主持活動(dòng)。