PHI4700俄歇電子能譜儀 俄歇電子能譜是透過使用電子束擊打在固體樣品上時，去分析被激發(fā)出的俄歇電子動能，以獲取有關樣品元素組成的信息。PHI4700薄膜分析儀，使用了世界進行各種樣品的俄歇表面分析和深度分析。再配上了PHI 公司在業(yè)界取得非常成功的SmartSoft軟件，讓操作更加簡化。造就PHI 4700 成為世界上*臺高自動化的俄歇電子能譜薄膜分析儀。

PHI4700俄歇電子能譜儀 儀器特點： 1、擁有的靈敏度與分析效率 2、強大的自動分析功能 3、配合SmartSoft-AES實現(xiàn)了簡易的操作模式

高靈敏度，高通量能量分析器與簡易自動化的俄歇深度分析，使的儀器成本效益可以輕易獲得PHI4700薄膜分析儀透過在SEM中快速的微米分析區(qū)域定位，可能快速的執(zhí)行并獲得 包括深度分析的分析結(jié)果。右例為手機鍍金電極的正常品與另一使用多年并且已變色的舊品的分析比較。就結(jié)果所見，變色的手機屏幕上，有著不預期的Ni（鎳）訊號擴散到金鍍層，從而就知道了屏幕變色的原因。 

高通量分析儀配合上高靈敏度測量的自動化分析 高靈敏度分析使PHI  4700薄膜分析儀分析測量所使用的時間減少了。此外，由于儀器配備了自動測量的功能，讓 PHI 4700成為一個媲美高級的生產(chǎn)設備，可以在很短的時間測量多個樣品。 自動測量的設定只需要簡單的在樣品圖上加上需要的分析區(qū)域，排列成隊列后就由軟件自動進行。