臺式XRF鍍層測厚儀 X-Strata920

利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

臺式XRF鍍層測厚儀 X-Strata920

X-Strata920 – 性價比高，無損可靠 

一款操作簡單的質(zhì)量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。

新型號設(shè)計

快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度

多款規(guī)格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型

開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等

符合ISO3487和ASTM B568檢測方法

X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：

固定樣品臺

開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度

經(jīng)濟、實用

平面樣品臺設(shè)計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析

加深樣品臺

高度每英寸(25.4mm)可調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容納大高度6.3"(160mm)的樣品

可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品

開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度

程控樣品臺

用于自動化測量 

方便根據(jù)測試位置放置樣品，并精準定位測量點

開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板