鍍層測厚儀-MAXXI 6
鍍層測厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析,確保產(chǎn)品質(zhì)量的*性和高品質(zhì)。
1、高分辨率的硅漂移器(SDD)
2、開槽式超大樣品艙設(shè)計
3、8個準(zhǔn)直器4、USB接口與計算機(jī)連接
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù),該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。
鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙,針對較薄而復(fù)雜的樣品,具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。