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胡經(jīng)理
進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。AFM5300E還具有高低溫控制功能,可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響。
分辨率 | 原子相 |
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樣品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴(kuò)展至20 mm) |
樣品移動(dòng)范圍 | X-Y stage 5 mm |
掃描范圍 | 標(biāo)準(zhǔn): 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH(閉環(huán)差控制) 定位顯微鏡 • 簡(jiǎn)易顯微鏡(×200倍) • 光學(xué)顯微鏡(×1000倍) • 變焦顯微鏡(×700倍) • 金相顯微鏡(裝有微分干渉)(×2000倍) |
檢測(cè)功能 |
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