便攜式測厚儀CMI165SRP-T1 面銅探頭綜合運用微電阻原理及溫度補償技術(shù),使其成為世界上推出帶溫度補償功能的銅箔測厚儀的制造商。
便攜式測厚儀CMI165SRP-T1 面銅探頭供應(yīng)商儀器特點:
應(yīng)用*的微電阻測試技術(shù),符合EN14571測試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負(fù)極;測量時,電流由正極到負(fù)極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響
耗損的SRP-T1探頭可自行更換,為牛津儀器產(chǎn)品
儀器的照明功能和SRP-T1探頭的保護(hù)罩方便測量時準(zhǔn)確定位
儀器具有溫度補償功能,測量結(jié)果不受溫度影響
儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實現(xiàn)高速傳輸,可保存為Excel文件
儀器使用普通AA電池供電
便攜式測厚儀CMI165SRP-T1 面銅探頭供應(yīng)商儀器規(guī)格:
厚度測量范圍:化學(xué)銅:0.25μm–12.7μm(0.01mils–0.5mils)
電鍍銅:2.0μm–254μm(0.1mil–10mil)
線性銅線寬范圍:203μm–7620μm(8mil–300mil)
儀器再現(xiàn)性:0.08μm at 20μm(0.003 mils at 0.79 mils)
顯示單位:mil、μm、oz
操作界面:英文、簡體中文
存 儲 量:9690條檢測結(jié)果(測試日期時間可自行設(shè)定)
測量模式:固定測量、連續(xù)測量、自動測量模式
統(tǒng)計分析:數(shù)據(jù)記錄,平均數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,上下限提醒功能
便攜式測厚儀CMI165SRP-T1 面銅探頭供應(yīng)商CMI165配置包括:
CMI165主機
SRP-T1探頭
NIST認(rèn)證的校驗用標(biāo)準(zhǔn)片1個