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美國博曼XRF鍍層測量與分析:基本原理
博曼XRF射線裝置利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。樣品被來自射線管的射線轟擊,產(chǎn)生熒光。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素,通過XRF的強(qiáng)度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個(gè)元素的成分。
X射線是看不見的。需要設(shè)備將X射線轉(zhuǎn)化成我們可以理解和處理的信號(hào),以便我們可以從X射線中提取信息。此設(shè)備稱為探測器。探測器與數(shù)字脈沖器(將X射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào))。探測器通常有三個(gè)標(biāo)準(zhǔn),能量分辨率,探測效率和穩(wěn)健性。能量分辨率是指分辨能量差很小的兩個(gè)光子的能力。探測效率是指記錄X射線的效率。為了實(shí)現(xiàn)更好的測量性能,所有博曼設(shè)備均配有硅探測器。
一旦從樣品生成XRF數(shù)據(jù),軟件就會(huì)將X射線強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為厚度或成分。 該軟件有兩個(gè)組成部分:頻譜處理和定量分析。
進(jìn)行定量分析
有兩種方法可以進(jìn)行定量分析。 經(jīng)驗(yàn)方法,例如干擾系數(shù),α系數(shù)等,用多項(xiàng)式函數(shù)逼近矩陣效應(yīng)。 這些方法要求在校準(zhǔn)中使用窄范圍內(nèi)的多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。 優(yōu)點(diǎn)是這些方法不需要復(fù)雜的計(jì)算,并且易于理解和實(shí)現(xiàn)。
FP方法通過理論計(jì)算校正基質(zhì)效應(yīng)。 計(jì)算基于物理定律和基本物理參數(shù)。 理論上,F(xiàn)P不需要在擴(kuò)展范圍內(nèi)進(jìn)行校準(zhǔn)和功能。 仍然需要校準(zhǔn)以小化物理參數(shù)和系統(tǒng)不確定性的誤差。 FP的算法發(fā)布在1970中,各種FP軟件系統(tǒng)之間的差異并不顯著。 FP cal比經(jīng)驗(yàn)cal更復(fù)雜,需要更高的計(jì)算能力。
博曼測量軟件采用Emp和FP鍍層厚度演算法
XRF儀器在金屬表面處理/終表面處理中的作用:
XRF鍍層測厚是10億美元市場規(guī)模的表面處理行業(yè)的需求。它同樣是一個(gè)很好的科技幫手幫助一些利潤微薄的電鍍企業(yè)在低成本實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)的鍍層。并且知道他們正在避免產(chǎn)品不合規(guī)的風(fēng)險(xiǎn)和原料浪費(fèi)造成的成本損失。
博曼XRF分析儀為各種元素和合金提供非接觸鍍層厚度測量,測量范圍可從十三號(hào)鋁元素到九十二號(hào)鈾元素。我們的儀器適用于小部件或復(fù)雜形狀的超薄的多層合金鍍層的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
在使用純金屬或合金層來增強(qiáng)產(chǎn)品品質(zhì)和性能的同時(shí),確定樣品元素成分和確定鍍層厚度一樣很重要。
元素分析的應(yīng)用
博曼XRF系統(tǒng)可分析元素成分,同時(shí)可測量鍍層厚度,簡化了品質(zhì)管控的流程。
電鍍槽組件的管理,包括主要組件,痕量組件以及添加劑。這些因素的管控關(guān)乎產(chǎn)品品質(zhì)與成本。
博曼XRF系統(tǒng)提供高精度,非破壞性,快速和用戶友好的方法來分析鍍液的金屬含量。
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