信號(hào)分析儀

產(chǎn)品信息

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最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT

電磁發(fā)射裝置多參數(shù)物理量
電磁發(fā)射裝置多參數(shù)物理量采集測(cè)試系統(tǒng)
適用于強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾環(huán)境，完成動(dòng)態(tài)溫度、熱流密度、沖擊波、振動(dòng)加速度、初速、后坐力、電壓/電流、應(yīng)變、行程、環(huán)境噪聲等物理量測(cè)試。
數(shù)字電視信號(hào)分析儀
l 頻率范圍： 5MHz----1040MHZ
l 解調(diào)形式：支持4/8/16/32/64/QAM
l 數(shù)字平均功率：25dBμV-110dBμV
l 測(cè)量精度： ±2 dB
l 測(cè)量帶寬：用戶可調(diào)可調(diào)整
l MER范圍： 13-34dB
l BER范圍： 1.0E-2 to 1.0E-5
瞬態(tài)信號(hào)采集存儲(chǔ)儀
瞬態(tài)信號(hào)采集存儲(chǔ)儀典型應(yīng)用：
密閉爆發(fā)器P-t曲線
自由場(chǎng)超壓測(cè)試系統(tǒng)
炮口沖擊波測(cè)試
空化噪聲測(cè)試
瞬變溫度測(cè)試
低噪聲動(dòng)態(tài)信號(hào)測(cè)試分析系
CR6400低噪聲動(dòng)態(tài)信號(hào)測(cè)試分析系統(tǒng)
放大5000倍，亞mV信號(hào)采集
單臺(tái)并行8通道、16通道、32通道
AWA6291型實(shí)時(shí)信號(hào)分析儀
AWA6291型實(shí)時(shí)信號(hào)分析儀
完成機(jī)器設(shè)備噪聲測(cè)量與分析、環(huán)境噪聲測(cè)量、聲功率級(jí)測(cè)量、建筑聲學(xué)測(cè)量、以及機(jī)器振動(dòng)的測(cè)量分析。
近場(chǎng)自動(dòng)連續(xù)掃描儀廠家批
近場(chǎng)自動(dòng)連續(xù)掃描儀廠家批發(fā)是利用光電技術(shù)和數(shù)字處理技術(shù)，以掃描方式將圖形或圖像信息轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的裝置。
PCB近場(chǎng)掃描儀信號(hào)分析儀
PCB近場(chǎng)掃描儀FLS 106 PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以測(cè)量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。該近場(chǎng)探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。近場(chǎng)探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。掃描儀支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)。
IC高頻近場(chǎng)掃描儀信號(hào)分
FLS 106 ICset ， IC高頻近場(chǎng)掃描儀可以在電子組件的集成電路上方，借助ICR-近場(chǎng)微探頭對(duì)頻率在6GHz以內(nèi)的高頻磁場(chǎng)或電場(chǎng)進(jìn)行高分辨率（50-100&amp;amp;#181;m）測(cè)量。使用近場(chǎng)探頭和帶有SH 01探頭支架的場(chǎng)源使用ICR-探頭（旋轉(zhuǎn)單元）工作狀態(tài)下對(duì)集成電路的采樣四軸定位系統(tǒng) 。
LANGER EMV-Technik SX近
LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組專門為近場(chǎng)測(cè)試設(shè)計(jì)的探頭，電磁兼容工程師*的基本工具，用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測(cè)PCB的電磁場(chǎng)情況
LANGER EMV-Technik XF1近
LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組專門為近場(chǎng)測(cè)試設(shè)計(jì)的探頭，電磁兼容工程師*的基本工具，用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測(cè)PCB的電磁場(chǎng)情況

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