FLS 106 IC set ，IC高頻近場掃描儀可以在電子組件的集成電路上方，借助ICR-近場微探頭對頻率在6GHz以內的高頻磁場或電場進行高分辨率（50-100µm）測量。 使用近場探頭和帶有SH 01探頭支架的場源 使用ICR-探頭（旋轉單元） 工作狀態(tài)下對集成電路的采樣 四軸定位系統(tǒng) 可提供一個掃描臺 GND/CB 和附件隨后交付 顧客進行測試時用到的其他附件在協商后也包含在供貨范圍
FLS 106 IC set IC高頻近場掃描儀內容：
1x FLS 106 IC
1x CS-Scanner, ChipScan-Scanner
1x GND 25
1x DM-CAM
1x Rotary unit
1x DM-CAM holder.3, SMA
1x FLS 106 IC acc
技術參數：
| 電源電壓 |
110 / 230 V |
| 接口 | USB |
| x,y,z 軸 | |
| 大過程路徑 | (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180° |
| 小過程路徑 | (20x 20 x 20) µm α-Rotation 1° |
| 移動速度 | （65x65x65） mm/s α-Rotation 90°/s |
| 重量 |
75 kg |
| 尺寸 (L x W x H) | (1030 x 775 x 990) mm |
FLS 106 IC主機
| 源電壓 |
110 / 230 V |
| 接口 | USB |
| x,y,z 軸 | |
| 大過程路徑 | (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180° |
| 小過程路徑 | (20x 20 x 20) µm α-Rotation 1° |
| 移動速度 | （65x65x65） mm/s α-Rotation 90°/s |
| 重量 |
75 kg |
| 尺寸 (L x W x H) | (1030 x 775 x 990) mm |
ChipScan-Scanner 軟件
ChipScan-Scanner軟件用于自動測量電子組件的近電場和近磁場，該軟件可以在電子組件上方的某一平面或某一空間范圍內進行檢測，可以顯示測量結果。從而精確快速的評估近場，并對測量結果進行多種處理和分析；還能方便地輸出圖像和數據，例如文檔或進一步的數學分析。
| 系統(tǒng)要求 |
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| 操作系統(tǒng) | Windows 7 64-bit (latest service packs) |
| 顯示器分辨率 | (1280 x 1024) px |
| 硬盤容量 | 1 GB |
| 外部設備 | CD drive for installation |
| 推薦的系統(tǒng)要求 |
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| 處理器 | 英特爾Core i7 2.7 GHz |
| 內存 | 8 GB |
| 顯示卡 | AMD Radeon 7950 |
| 顯卡內存 | 3 GB |
