摘要 一用途：通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）

摘要 型號：LAM-ALAM-BLAM-G葉面積儀主機簡介：LAM系列活體葉面積測量儀是河南邦友科技有限公司自主創(chuàng)新研發(fā)的產(chǎn)品

摘要儀器介紹HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微...

摘要 主機簡介：YMJ系列活體葉面積測量儀是新研發(fā)的產(chǎn)品

摘要 主機簡介：YMJ系列活體葉面積測量儀是新研發(fā)的產(chǎn)品

摘要 YMJ-C 活體葉面積測定儀活體葉面積測定儀特點： 可針對任何不規(guī)則形狀，任何顏色，任何厚度和水份含量的葉片表面積進行測量

摘要儀器介紹HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微...

摘要 一、葉面積儀主機簡介： YMJ系列活體葉面積測量儀是新研發(fā)的產(chǎn)品

摘要一、植物冠層分析儀儀器介紹 HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的...

摘要 一、葉面積儀主機簡介： YMJ系列活體葉面積測量儀是新研發(fā)的產(chǎn)品

摘要 儀器介紹植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)

摘要儀器介紹HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微...

摘要儀器介紹 HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上...

摘要一、植物冠層分析儀儀器介紹 HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的...

摘要美國OPTI-SCIENCES OS-30P+快速植物脅迫測量儀 美國OPTI-SCIENCES OS-30P+快速植物脅迫測量儀是OS-30p快速植...

摘要 詳細介紹：產(chǎn)品名稱：活體葉面積測定儀產(chǎn)品類別：環(huán)境氣象系列產(chǎn)品型號：YM-Y-H詳細介紹：型號：YM-Y-H活體葉面積測定儀主機、探頭一體化設(shè)計

摘要 詳細介紹：產(chǎn)品名稱：葉面積測定儀產(chǎn)品類別：環(huán)境氣象系列產(chǎn)品型號：YM-Y-M詳細介紹：儀器介紹：葉面積測定儀又名激光葉面積儀、葉面積掃描儀，可針對任何不規(guī)則形狀，任何顏色，任何厚度和水份含量的葉片表面積進行測量

摘要美國CID CI-600植物根系生長監(jiān)測系統(tǒng) 美國CID CI-600植物根系生長監(jiān)測系統(tǒng)是頭家套“土壤原位多層次旋轉(zhuǎn)式圖像監(jiān)測儀”可以獲取土壤、根系...

摘要美國Dexsil PetroFLAG便攜式土壤總石油烴快速檢測儀 美國Dexsil PetroFLAG便攜式土壤總石油烴快速檢測儀一種輕便、堅固的手持...

摘要美國METER AccuPAR LP-80冠層分析儀 美國METER AccuPAR LP-80植物冠層分析儀由數(shù)據(jù)采集器和探桿兩部分組成，是通過菜單...

摘要 LaiPen LP100葉面積指數(shù)測量儀

摘要 TRAC PLUS植物冠層分析儀

摘要 TOP-1000植物冠層分析儀

摘要植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點多次測量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測量冠層可以主...

摘要 TOP-1200植物冠層分析儀

摘要 TOP-1400植物冠層分析儀

摘要 萬深LA-S系列手機拍照款葉面積分析儀

摘要 LA-S植物冠層圖像分析儀冠層分析系統(tǒng)

摘要 JZ-YMJ植物葉面積測定儀九州晟欣

摘要 WinSCANOPY植物冠層分析系統(tǒng)

摘要手持式植物冠層分析系統(tǒng) 品 牌：德國STEPS [品牌所有] 型 號：ACS-430 價 格：洽談 ...

摘要 SunScan植物冠層分析系統(tǒng)

摘要室外植物表型-便攜式表型冠層分析儀 品 牌：法國Hi-phen [品牌所有] 型 號：airphen+ 價 格：洽談 ...

摘要Hiphen高通量植物表型冠層分析儀相機 品 牌：法國Hi-phen [品牌所有] 型 號：Hiphen 價 格：洽談...

摘要 LaiPen LP110葉面積指數(shù)測量儀

摘要 Hemiview數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)簡介

摘要 產(chǎn)品簡介：LaiPen LP110葉面積指數(shù)儀用于測量闊葉冠層的葉面積指數(shù)（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數(shù)是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數(shù)。即：葉面積指數(shù)=葉片總面積/土地面積。

摘要 產(chǎn)品簡介：LaiPen LP110葉面積指數(shù)測量儀用于測量闊葉冠層的葉面積指數(shù)（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數(shù)是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數(shù)。即：葉面積指數(shù)=葉片總面積/土地面積。

摘要產(chǎn)品簡介：SunScan專業(yè)版冠層分析儀采用上*采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，利用軟件對所得圖像和數(shù)據(jù)進行分析計算，得出冠層相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。具有精確、省時省力、快捷方便的特點...

摘要 葉面積測量儀/葉面積測定儀儀器用途：YMJ系列葉面積測量儀是一種使用方便、可以在野外工作的便攜式儀器。

摘要 又稱冠層分析儀。只要在冠層下穿行，即可獲取葉面積指數(shù)、叢生指數(shù)、間隙率、光合有效輻射、光合有效輻射分量等參數(shù)。

摘要研究植物地上部葉片的空間結(jié)構(gòu)分布是生態(tài)學(xué)中的重要課題。Yaxin-1201冠層儀是定量描述植物地上冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效工具。Yaxin-1201植物冠層儀可以適應(yīng)大多數(shù)的喬葉林、針葉林、灌木和栽培農(nóng)作物的生態(tài)學(xué)、栽培學(xué)研究，也可以用于環(huán)境保護、城市園林綠化，植物保護和病...

摘要葉面積測定儀主機、探頭一體化設(shè)計，更方便操作 采用微電腦技術(shù)，LCD液晶顯示 內(nèi)置充電電池，無需外部供電，更適用于野外測量 一次性可測量較大葉片面積（1000mm160mm） 可存儲200組數(shù)據(jù)（葉面積、葉長、葉寬） 可測量葉片的多種參數(shù)：葉面積、平均葉面積、葉長、葉...

摘要hemiview林地冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，HemiView 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點的光線覆蓋狀況...

摘要 sunscan冠層分析系統(tǒng)通過測量作物冠層PAR值，提供影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。