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探針臺維修保養(yǎng) 探針臺用途：

手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。
儀準科技擅長領域手動探針臺Probe station，激光開封機Laser decap，光發(fā)射顯微鏡EMMI，IV自動曲線量測儀，紅外顯微鏡，半導體失效分析設備，集成電路測試：非破壞xing分析

維護和保養(yǎng)
1. 避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺時應避免碰撞，機體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機器發(fā)生故障或異常異音。
2.儀器的運輸：儀器運輸時，請先拔掉電源線插頭。
儀器運輸應使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺的任何運動部件。

3.儀器的存放
使用完后需要注意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機械精密部件，光學部件，電學接觸面污染，導致儀器精度降低。
探針臺機體清潔時，避免直接潑水清理，以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機器，以免發(fā)生故障或危險。
探針臺光學部件清潔時，可用鏡頭紙蘸*從中間向外輕輕的擦拭。*時易燃物，注意使用安全。
停電或長期不用、外出旅行時，請將電源線插頭拔掉以維護機器壽命。
操作人員必須嚴格按要**作，以保證數(shù)據(jù)的準確和儀器的正常使用。
儀準科技擅長領域手動探針臺Probe station，激光開封機Laser decap，光發(fā)射顯微鏡EMMI，IV自動曲線量測儀，紅外顯微鏡，半導體失效分析設備，集成電路測試：非破壞xing分析

4.工作環(huán)境
探針臺應放在穩(wěn)定可靠的臺面上，好是具有防震裝置的工作臺上，避免在高溫，潮濕激烈震動，陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。
使用佳溫度范圍為5℃～40℃，佳濕度是40%到85%，空氣中之濕度若低于30%以下，可靠濕度控制器予以控制，使維持50%～60%之范圍。使用時門窗盡可能關閉，使室內(nèi)達到除濕效果。
使用電源：220±10%，50~60Hz

探針臺維修保養(yǎng)