半導體領域探針臺
在集成電路的研發(fā)、生產制造、實效分析過程中，經常要量測內部的電參數，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現微小位置的電學參數測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺
型號： PW-400
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數2～4顆
適用領域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學術單位等
型號： PW-600/PW-800
規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調升降8mm，微調升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產品
RF高頻探針臺
東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten
