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模擬靜電CDM試驗(yàn)機(jī)HANWA阪和電子工業(yè) 靜電測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商

所  在  地深圳市

更新時(shí)間:2022-10-06 09:49:56瀏覽次數(shù):3385次

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產(chǎn)地 進(jìn)口 加工定制
模擬靜電CDM試驗(yàn)機(jī)HANWA阪和電子工業(yè)
是與日本、海外的規(guī)格對(duì)應(yīng)的可靠性高的裝置。(JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格對(duì)應(yīng))通過(guò)更換放電電路的單元來(lái)支持國(guó)內(nèi)外的規(guī)格測(cè)試。可以測(cè)量設(shè)備各端子容量。測(cè)量數(shù)據(jù)可以作為文本文件保存。

模擬靜電CDM試驗(yàn)機(jī)HANWA阪和電子工業(yè)

模擬靜電CDM試驗(yàn)機(jī)HANWA阪和電子工業(yè)

CDM試驗(yàn)機(jī)  型號(hào):HED-C5000R

是與日本、海外的規(guī)格對(duì)應(yīng)的可靠性高的裝置。(JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格對(duì)應(yīng))通過(guò)更換放電電路的單元來(lái)支持國(guó)內(nèi)外的規(guī)格測(cè)試。可以測(cè)量設(shè)備各端子容量。測(cè)量數(shù)據(jù)可以作為文本文件保存。

CDM試驗(yàn)機(jī)  型號(hào):HED-CB5000

是一種模擬半導(dǎo)體器件上插有印刷電路板和模塊的靜電向接地等放電現(xiàn)象的測(cè)試裝置。充放電現(xiàn)象采用了與面向半導(dǎo)體器件的CDM試驗(yàn)相同的試驗(yàn)。 

全自動(dòng)Wafer ESD測(cè)試儀 型號(hào):HED-W5300D

WaferESD測(cè)試儀HED-W5300D比以往的產(chǎn)品HED-W5100D進(jìn)化得更厲害,可以自動(dòng)控制搭載Wafer的階段。

即使是300mm級(jí)別的Wafer,只要將Wafer放在舞臺(tái)上,就可以簡(jiǎn)單地進(jìn)行測(cè)定。

工作效率肯定會(huì)大幅提高。

另外,和以前的產(chǎn)品一樣,可以對(duì)一般的包裝品進(jìn)行試驗(yàn)。

全自動(dòng)Wafer ESD測(cè)試儀 型號(hào):HED-W5100D

從LED用到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer,可以應(yīng)用HBM和MM。

施加ESD后,也可以通過(guò)V/I測(cè)量進(jìn)行破壞判定。此外,還可與ESD測(cè)試等TLP測(cè)試裝置同時(shí)使用。對(duì)于ESD測(cè)試中出現(xiàn)問(wèn)題的設(shè)備,有效地獲得保護(hù)電路的動(dòng)作參數(shù)。

是與日本、海外的規(guī)格對(duì)應(yīng)的可靠性高的裝置。(JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格對(duì)應(yīng))

高性能Manual Wafer ESD測(cè)試儀 型號(hào):HED-W5000M

高性能Manual Wafer ESD測(cè)試儀

操作機(jī)器人,可以簡(jiǎn)單地對(duì)準(zhǔn)2針之間的位置。

施加脈沖后,可以通過(guò)Vf/Im測(cè)量進(jìn)行破壞判定。

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