FT-IR 光譜輻射應用  光譜輻射計量應用 從科學研究到可部署的解決方案，傅立葉變換紅外（FT-IR）光譜輻射計量技術已經(jīng)成為發(fā)展和增強不同軍事應用的理想技術。在國防工業(yè)領域，F(xiàn)T-IR光譜輻射計量技術應用于：− 偽裝系統(tǒng)開發(fā)和紅外隱身；− 飛機發(fā)動機熱輻射特性的分析檢測；− 紅外誘餌發(fā)射光譜和*對抗系統(tǒng)的開發(fā)、分析和改進；− 逸散性排放分類，用于紅外輻射特性數(shù)據(jù)庫的開發(fā)；− 戰(zhàn)場爆炸波分類，其中包括爆炸、炮口焰和發(fā)射；− 開發(fā)多種可部署的偵察解決方案對戰(zhàn)場情況進行遠程遙感。 這種的創(chuàng)新型技術擴展了工程模型的應用。它還用于改善不同類型的紅外發(fā)射源。FT-IR成像光譜輻射計可為紅外發(fā)射源建模和輻射場的時空演變提供關鍵信息數(shù)據(jù)。 MR-i高光譜成像儀價格結合成像光譜輻射計，用帶有反演算法的輻亮度測量可以對各種大氣應用進行成像，例如：− 氣象湍流探測；− 大氣成分分析；− 化學云的遠距離探測。  技術在傳統(tǒng)的單像束FT-IR光譜輻射儀具有*的性能（如更高的光譜分辨率和在整個視場（FOV）內(nèi)更好的靈敏度）的同時，多像素FT-IR超光譜成像儀則進一步拓展了紅外特性的探測能力。通過空間解析所觀察場景的關鍵特性，可能提供精確的目標空間譜信息。 通過結合場景的光譜和空間譜信息，采集到的數(shù)據(jù)將得到進一步的應用。因此，F(xiàn)T-IR成像光譜輻射計具有生成3D圖像的*功能（2D空間圖像+Z向的光譜信息），其中每個像素點具有其所對應空間場景的譜信息。

MR-i高光譜成像儀價格

 走在成像光譜領域的zui前沿ABB在光譜技術領域擁有35年的創(chuàng)新史，是*的世界*，目前正在通過其新開發(fā)的FT-IR超光譜成像光譜輻射計擴展其遙感產(chǎn)品系列。MR-i具有以下特點： 成熟、堅固的設計MR-i是一款商用/商業(yè)級FT-IR成像光譜輻射計，以ABB Bomem MR系列光譜輻射儀為基礎，核心其設計采用了與MR304/MR170相同的無阻尼、堅固的4端口干涉儀結構。 雙相機配置MR-i是能同時具有中波紅外成像和長波紅外成像的商業(yè)級FT-IR超光譜成像光譜輻射計。MR-i 4端口干涉儀能夠同時容納兩種不同類型的相機模塊（如MWIR/LWIR）組合，擴展了儀器的光譜覆蓋范圍，或可集成兩個相同的相機模塊（如MWIR/MWIR），擴展了儀器的動態(tài)范圍。憑借這種*的特性，MR-i能夠同時采集并精確同步兩個可互換的相機模塊的數(shù)據(jù)，使儀器能夠同時進行復雜輻射場景的測量。 配置兩個探測模塊的MR-i就如同在一個儀器中融合兩個成像光譜輻射儀的功能，具有以下好處：− 兩個相機的精確同步；− 兩個相機的光軸*；− 通過一個用戶界面輕松操作；− 降低了購置成本；− 降低了維護成本

靈敏度/擴展的動態(tài)范圍 某些應用，例如目標紅外輻射特性，常常需要同時測量場景中隨機分布的高、低強度發(fā)射源。每個探測模塊的信噪比性能受到相機積分時間的影響。根據(jù)亮點（hot pixels）的能量級別設置積分時間將對場景中的暗點（cold pixels）產(chǎn)生負面影響。另一方面，預設暗點zui大信噪比的積分時間將導致亮點飽和。 MR-i對于目標紅外輻射特性的定量測量與分析提供了的靈敏度。利用相同光譜范圍（MWIR-MWIR或LWIR-LWIR）的兩個探測模塊配置在兩個輸出端口，它們能夠分別設置不同的增益或積分時間，以擴展儀器的動態(tài)范圍。這大大改善了對于場景中zui明亮和zui暗淡的區(qū)域的定量監(jiān)測。